1 |
S. J. Lim, J. W. Elam and M. J. Pellin, Thin Solid Films,
516, 6158 (2008).
DOI
ScienceOn
|
2 |
D. M. King, X. Liang, P. Li and A. W. Weimer, Thin Solid Films, 516, 8517 (2008).
DOI
ScienceOn
|
3 |
R. Triboulet and J. Perriere, Progr. Cryst. Growth Char. Mater., 47, 65 (2003).
DOI
ScienceOn
|
4 |
M. F. Guest, I. H. Hillier and V. R. Saunders, J. Organomet. Chem., 44, 59 (1972).
DOI
ScienceOn
|
5 |
N. Maung, J. Mol. Struct., 434, 255 (1998).
DOI
ScienceOn
|
6 |
Y. S. Kim, Y. S. Won, H. Hagelin-Weaver, N. Omenetto
and T. Anderson, J. Phys. Chem. A, 112, 4246 (2008).
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. Ren, Appl. Surf. Sci. 255, 5742 (2009).
DOI
ScienceOn
|
8 |
L. Dong, Q.-Q. Sun, H.-W. Guo, H. Liu, S.-J. Ding and
D. W. Zhang, Thin Solid Films, 517, 4355 (2009).
DOI
ScienceOn
|
9 |
G. Kresse and J. Hafner, Phys. Rev. B, 47, 558 (1993)
DOI
ScienceOn
|
10 |
E. Yousfi, J. Fouache and D. Lincot, Appl. Surf. Sci.,
153, 223 (2000).
DOI
ScienceOn
|
11 |
A. W. Ott and R. P. H. Chang, Mater, Chem, Phys., 58,
132 (1999).
DOI
ScienceOn
|
12 |
Phys. Rev. B, 49, 14251 (1994).
DOI
ScienceOn
|
13 |
G. Kresse and J. Furthmuller, Comput. Mat. Sci., 6, 15
(1996).
DOI
ScienceOn
|
14 |
G. Kresse and J. Furthmüller, Phys. Rev. B, 54, 11169
(1996).
DOI
ScienceOn
|
15 |
G. Kresse and D. Joubert, Phys. Rev. B, 59, 1758 (1999).
DOI
ScienceOn
|
16 |
H. T. Wang, B. S. Kang, F. Ren, L. C. Tien, P. W. Sadik,
D. P. Norton, S. J. Pearton and J. Lim, Appl. Phys. Lett.,
86, 243503 (2005).
DOI
ScienceOn
|
17 |
S. K. Hazra and S. Basu, Solid State Electron., 49, 1158
(2005).
DOI
ScienceOn
|
18 |
D. Sheppard and R. Terrell, G. Henkelman, J. Chem. Phys., 128, 134106 (2008).
DOI
ScienceOn
|
19 |
M. Law, L. E. Greeme, J. C. Johnson, R. Saykally and
P. Yang, Nat. Mater., 4, 255 (2005).
|
20 |
S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo and T. Steiner,
Progr. Mater. Sci., 50, 293 (2005).
DOI
ScienceOn
|
21 |
S. Muthukumar, C. R. Gorla, N. W. Emanetoglu, S. Liang
and Y. Lu, J. Cryst. Growth, 225, 197 (2001).
DOI
ScienceOn
|
22 |
V. Assuncao, E. Fortunato, A. Marques, H. Aguas, I. Ferreira, M. E. V. Costa and R, Martins, Thin Solid Films, 427, 401 (2003).
DOI
ScienceOn
|
23 |
S. Jagar, B. Szyszka, J. Szczyrbowski and G. Bauer, Surf. Coating. Tech., 98, 1304 (1998).
DOI
ScienceOn
|
24 |
N. L. Hung, H. Kim and D. Kim, Kor. J. Mater. Res., 20,
235 (2010) (in Korean).
DOI
ScienceOn
|
25 |
S. Park, H. Jung, E. Ahn, L. H. Nguyen, Y. Kang, H. Kim
and D. Kim, Kor. J. Mater. Res., 18, 655 (2008) (in Korean).
DOI
ScienceOn
|
26 |
S. Masuda, K. Kitamura, Y. Okumura and S. Miyatake,
J. Appl. Phys., 93, 1624 (2003).
DOI
ScienceOn
|
27 |
P. F. Carcia, R. S. McLean, M. H. Reilly and G. Nunes
Jr., Appl. Phys. Lett., 82, 1117 (2003).
DOI
ScienceOn
|
28 |
E. Fortunato, P. Barguinha, A. Pimentel, A. Gonçalves, A.
Marques, L. Pereira and R. Martins, Adv. Mater., 17, 590
(2005).
DOI
ScienceOn
|
29 |
A. N. Banerjee, C. K. Ghosh, K. K. Chattopadhway, H.
Minoura, A. Sarkar, A. Akiba, A. Kamiya and T. Endo,
Thin Solid Films, 496, 112 (2006).
DOI
ScienceOn
|
30 |
A. Yamada, B. Sang and M. Konagai, Appl. Surf. Sci.,
112, 216 (1997).
DOI
ScienceOn
|
31 |
M. H. Huang, S. Mao, H. Feick, H. Yan, Y. Wu, H. Kind,
E. Weber, R. Russo and P. Yang, Science, 292, 1897
(2001).
DOI
ScienceOn
|
32 |
D. M. Wood and A. Zunger, J. Phys. A, 18, 1343 (1985).
DOI
ScienceOn
|
33 |
P. Pulay, Chem. Phys. Lett., 73, 393 (1980).
DOI
ScienceOn
|
34 |
S. K. Kim, C. S. Hwang, S. -H. Ko Park and S. J. Yun,
Thin Solid Films, 478, 103 (2005).
DOI
ScienceOn
|
35 |
V. Lujala, J. Skarp, M. Tammenmaa and T. Suntola, Appl. Surf. Sci., 82-83, 34 (1994).
DOI
ScienceOn
|
36 |
D. C. Look, Mater. Sci. Eng., B80, 383 (2001).
|