1 |
Y. K. Lee, J. Y. Kim, B. K. Kim and Y. T. Yu, Kor. J. Mater. Res., 8(8), 737 (1998).
|
2 |
B. K. Kim, Y. T. Yu, G. S. Eom and Y. K. Lee, J. KACGCT, 9(3), 315 (1999).
|
3 |
T. Matsuzawa, Y. Aoki, N. Takeuchi and T. Murayama,
J. Electrochem. Soc., 143, 2670 (1996).
DOI
|
4 |
H. Takasaki, S. Tanabe and T. Hanada, J. Ceram. Soc. Jpn. Int. Ed., 104, 322 (1996).
DOI
ScienceOn
|
5 |
V. V. Zhurov, A. A. Bush, S. A. Ivanov, S. Yu. Stefanovich
and B. N. Bomanov, Sov. Phys. Solid State, 33, 960
(1991).
|
6 |
T. R. N. Kutty, R. Jagannathan and R. P. Rao, Mat. Res. Bull., 25(11), 1355 (1990).
DOI
ScienceOn
|
7 |
T. Katsumata, T. Nabae, K. Sasajima, S. Komuro and T.
Morikawa, J. Electrochem. Soc., 144, L243 (1997).
DOI
|
8 |
F. C. Palilla, A. K. Levine and M. R. Tomkus, J. Electrochem. Soc., 115, 642 (1968).
DOI
|
9 |
V. Abbruscato, J. Electrochem. Soc., 118, 930 (1971).
DOI
|
10 |
L .A. Chick, L. R. Pederson, G. D. Maupin, J. L. Bates,
L. E. Thomas, and G. J. Exarhos, Mat. Lett., 10(1,2), 6
(1990).
DOI
ScienceOn
|
11 |
T. Katsumata, T. Nabae, K. Sasajima, J. Matsuzawa,
J. Cryst. Growth, 183, 361 (1998).
DOI
ScienceOn
|