1 |
D. Kim, Opt. Mater., 24, 471 (2003)
DOI
ScienceOn
|
2 |
X. W. Sun, H. C. Huang and H. S. Kwok, Appl. Phys. Lett., 68, 2663 (1996)
DOI
|
3 |
C. Y. Hsu, T. F. Ko and Y. M. Huang, J. Eur. Ceram. Soc., 28, 3065 (2008)
DOI
ScienceOn
|
4 |
P. K. Biswas, A. De, L. K. Dua and L. Chkoda, Appl. Surf. Sci., 253, 1953 (2006)
DOI
ScienceOn
|
5 |
G. Haacke, J. Appl. Phys., 47, 4086 (1976)
DOI
ScienceOn
|
6 |
A. B. Chebotareva, G. G. Untila, T. N. Kost, S. Jorgensen and A. G. Ulyashin, Thin Solid Films, 515, 8505 (2007)
DOI
ScienceOn
|
7 |
M. Sohn, D. Kim, S. Kim and S. Gupta, J. Vac. Sci. Technol., A 21, 1347 (2003)
DOI
ScienceOn
|
8 |
C. May, Y. Tomita, M. Toerker, M. Eritt, F. Loeffler, J. Amelung and K. Leo, Thin Solid Films, 516, 4609 (2008)
DOI
ScienceOn
|
9 |
T. K. Yong, T. Y. Tou, R. B. Yang, B. S. Teo and H. K. Yow, Vacuum, 82, 1445 (2008)
DOI
ScienceOn
|
10 |
L. Meng, J. Gao, R. A. Silva and S. Song, Thin Solid Films, 516, 5454 (2008)
DOI
ScienceOn
|
11 |
D. Lee, S. Shin, J. Choi and K. Yoon, Appl. Surf. Sci., 254 4650 (2008)
DOI
ScienceOn
|
12 |
K. Sugiyama, H. Ishii, Y. Ouch and K. Seki, J. Appl. Phys., 87, 295(2000)
DOI
ScienceOn
|
13 |
Y. S. Kim, J. H. Park and D. Kim, Vacuum, 82, 574 (2008)
DOI
ScienceOn
|