1 |
M. K. Lee, H. D. Wang and J. J. Wang, Solid State Electron. 41, 695 (1997)
DOI
ScienceOn
|
2 |
B. N. Park, S. C. Bae, S. C. Son, J. H. Lee, S. Y. Choi, C. G. Suk and J. K. Choi, J. Korean Phys. Soc., 38, 232 (2001)
|
3 |
J. H. Kim, Y. G. Seol and N.-E. Lee, J. Korean Phys. Soc. 51, S187 (2007)
DOI
ScienceOn
|
4 |
K. K. Choi, S. W. Rhee, Thin Solid Films, 397, 70 (2001)
DOI
ScienceOn
|
5 |
K. Hong, J. K. Kim, S. K. Lee, S. Park, B. Gyun, Y. D. Ko, N. J. Jeon and J. S. Chung, Phys. stat. sol., b241, 1681 (2004)
DOI
ScienceOn
|
6 |
J. H. Lee, B. N. Park, S. J. Park and S. Y. Choi, J. Korean Phys. Soc. 33, S112, 1998
|
7 |
W. Bang, K. Hong, Electrochem. Solid-State Lett., 10(8), J86 (2007)
DOI
ScienceOn
|
8 |
J. G. Kim, J. Lee, J. Bae, W. Bang, K. Hong, C. H. Yoon, D. Son and K. Jeong, Journal of Magnetics, 11(3), 119 (2006)
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|
9 |
T. G. Koetter, H. Wendrock, H. Schuehrer, C. Wenzel and K. wetzig, Microelectron. Reliab., 40, 1295 (2000)
DOI
ScienceOn
|
10 |
S. D. Yosi, S. Lopatin, Electrochimica Acta, 44, 3639 (1999)
DOI
ScienceOn
|
11 |
K. Hong, J. Lee, J. Lee, Y. D. Ko, J. S. Chung and J. G. Kim, J. Magn. Magn. Mater., 304, 60 (2006)
DOI
ScienceOn
|