1 |
R.L. Hoffman, B.J. Norris, and J.F. Wager, Appl. Phys. Lett., 82, 733 (2003)
DOI
ScienceOn
|
2 |
R. Martins, P. Almeida, P. Barquinha, L. Pereira, I. Ferreira and E. Fortunato, J. Non. Cryst. Solids, 352, 1471 (2006)
DOI
ScienceOn
|
3 |
E. Fortunato, P.M.C. Barquinha, A.C.M.B.G. Pimentel, A.M.F. Goncalves, A.J.S. Marques, L.M.N. Pereira and R. Martins, Adv. Mater., 17, 590 (2005)
DOI
ScienceOn
|
4 |
K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Science, 300, 1269 (2003)
DOI
ScienceOn
|
5 |
H. Yabuta, M. Sano, K. Abe, T. Aiba, T. Den, H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 89, 112123 (2006)
DOI
ScienceOn
|
6 |
H. Q. Chiang, J. F. Wager, R. L. Hoffman, J. Jeong, and D. A. Keszler, Appl. Phys. Lett., 86, 013503 (2005)
DOI
ScienceOn
|
7 |
K. Matsuzaki, H. Hiramatsu, K. Nomura, H. Yanagi, T. Kamiya, M. Hiranob, and H. Hosono, Thin Solid Films, 496, 37 (2006)
DOI
ScienceOn
|
8 |
H. Jeon, V. P. Verma, S. Hwang, S. Lee, C. Park, D. H. Kim, W. Choi, and M. Jeon, Jpn. J. Appl. Phys., 47, 87 (2008)
DOI
|
9 |
A. Suresh, P. Gollakota, P. Wellenius, A. Dhawan, and J.F. Muth, Thin Solid Films, 516, 1326 (2008)
DOI
ScienceOn
|
10 |
E. Fortunato, P. Barquinha, A. Pimentel, A. Goncalves, A. Marques, L. Pereira, and R. Martins, Thin Solid Films, 487, 205 (2005)
DOI
ScienceOn
|
11 |
H. Hosono, Thin Solid Films, 515, 6000 (2007)
DOI
ScienceOn
|
12 |
C. J. Kim, D. H. Kang, I. H. Song, J. C. Park, H. Lim, S. I. Kim, B. H. Lee, R. J. Chung, J. C. Lee, and Y. S. Park, IEDM Tech. Dig, 11.6.1 (2006)
|
13 |
G. Lavareda, C. Nunes de Carvalho, E. Fortunato, A.R. Ramos, E. Alves, O. Conde and A. Amaral, J. Non-Cryst. Solids, 352, 2311 (2006)
DOI
ScienceOn
|
14 |
R. E. Presley, C. L. Munsee, C.-H. Park, J. F. Wager, and D. A. Keszler, J. Phys. D: Appl. Phys., 37, 2810, (2004)
DOI
ScienceOn
|
15 |
G. Hu, B. Kumar, H. Gong, E. F. Chor, and P. Wu, Appl. Phys. Lett., 88, 101901 (2006)
DOI
ScienceOn
|
16 |
W. Lim, Y. L. Wang, F. Ren, D. P. Norton, I. I. Kravchenko, J. M. Zavada, and S. J. Pearton, Appl. Surf. Sci., 254, 2828 (2008)
|
17 |
D. Hong, H. Q. Chiang, and J. F. Wager, J. Vac. Sci. Technol. B, 24, L23 (2006)
DOI
ScienceOn
|
18 |
J. K. Jeong, M. Kim, J. H. Jeong, H. J. Lee, T. K. Ahn, H. S. Shin, K. Y. Kang, H. Seo, J. S. Park, H. Yang, H. J. Chung, Y. G. Mo and H. D. Kim, IMID Digest, 145 (2007)
|
19 |
H. Kumomi, K. Nomura, T. Kamiya, and H. Hosono, Thin Solid Films, 516, 1516 (2008)
DOI
ScienceOn
|
20 |
W. Lim, S. Kim, Y.-L. Wang, J. W. Lee, D.P. Norton, S. J. Pearton, F. Ren, and I. I. Kravchenko J. Electrochem. Soc., 155, H383 (2008)
DOI
ScienceOn
|