1 |
Y. J. Lin, W. Y. Chou and S. T. Lin, Appl. Phys. Lett., 88, 071108 (2006)
DOI
ScienceOn
|
2 |
C. Dimitrakopoulos and P. R. L. Malenfant, Adv. Mater., 14, 99 (2002)
DOI
ScienceOn
|
3 |
N. Koch, J. Ghijsen, J. J. pireaux, J. Schwartz, R. L. Johnson, A. Elschaner and A. Kahn, Appl. Phys. Lett., 82, 70 (2003)
DOI
ScienceOn
|
4 |
T. L. Stott and M. O. Wolf, Coordin. Chem. Rev., 246, 89 (2003)
DOI
ScienceOn
|
5 |
G. Greczynski, T. Kugler, and W. R. Salaneck, Thin Solid Films, 354, 129 (1999)
DOI
ScienceOn
|
6 |
R. H. Friend, R. W. Gymer, A. B. Holmes, J. H. Burroughes, R. N. Marks, C. Taliani, D. D. C. Bradley, D. A. Dos Santos, J. L. Bre das, M. Lo gdlund, and W. R. Salaneck, Nature, 397, 121 (1999)
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. S. Kim, R. H. Friend and F. Cacialli, Appl. Phys. Lett., 74, 3084 (1999)
DOI
|
8 |
C. J. Murphy and N. R. Jana, Adv. Mater., 14, 80 (2002)
DOI
ScienceOn
|
9 |
G. R. Gattorno, D. Diaz, L. Rendon and G. O. Hernandez-Segura, J. Phys. Chem. B., 106, 2482 (2002)
DOI
ScienceOn
|
10 |
W. Schnabel, Polymer degradation: Principles and Practical Applications, p. 25-63, Macmillan Publishing Co. Inc., New York (1981)
|
11 |
W. H. Kim, G. P. Kushto, H. Kim, and Z. H. Kafafi, J. of Polym. Sci. Part B: Polym. Phys., 41, 2522 (2003)
DOI
ScienceOn
|
12 |
C. H. L. Weijtens, V. Van Elsbergen, M. M. de Kok, S. H. P. M de Winter, Org. Electron., 6, 97 (2005)
DOI
ScienceOn
|
13 |
N. Koch and A. Vollmer, Appl. Phys. Lett., 89, 162107 (2006)
DOI
ScienceOn
|
14 |
J. J. Mock, D. R. Smith and S. Schultz, Nano. Lett., 3, 485 (2003)
DOI
ScienceOn
|
15 |
J. Lu, N. J. Pinto and A. G. MacDiarmid, J. Appl. Phys., 92, 6033 (2002)
DOI
ScienceOn
|