1 |
A. Selloni, A. Vittadini and M. Gratzel, Surface Sci., 402-404, 219 (1998)
|
2 |
J. H. Braun, J. Coatings Technol., 69, 59 (1997)
|
3 |
J. J. Han, K. J. Yoon, O. S. Song, J. H. Ryu, J. Kor. Academic Industrial soc., in press
|
4 |
IESNA, lighting Handbook, 9th ed., p.152, IESNA, newyork (2000)
|
5 |
C. K. Ji, Kor. Institute of Illuminating and elec. Installation eng., 15, 1 (2001)
|
6 |
D. H. Keum, K. H. Kim, H. J. Lee, Transmission Electron Microscope Analytics, 1st ed., p.248-252, Cheongmoongak publishing, Seoul, Korea, (1996)
|
7 |
J. A. Kittl, M. A. Pawlak, A. Lauwers, C. Demeurisse, T. Hoffmann, A. Veloso, K. G. Anil, S. Kubicek, M. Niwa, M. J. H. van Dal, O. Richard, M. Jurczak, C. Vrancken, T. Chiarella, S. Brus, K. Maex, S. Biesemans, Microelectric Eng., 83 (2006)
|
8 |
T. Nagatomo, Y. Maruta, O. Omoto, Thin Solid Films, 192, 17 (1990)
|
9 |
Colgan E. G., Gambino J. P., Hong Q. Z., Mater. Science and Engineering, 16, 43, (1996)
|
10 |
B. A. Julies, D. Knoesen, R. Pretorius, D. Adams, Thin Solids Films, 347. 201 (1999)
|
11 |
S. H. Shin, H. H. Kim, J. Kor. Phys. Soc., 10, 453 (1997)
|