Study of Surface Treatments on Field Emission Properties for Triode-Type Carbon Nanotube Cathodes |
Lee, Ji-Eon
(School of Materials Science and Engineering, Pusan National University)
An, Young-Je (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) Lee, Je-Hyun (Defense Agency for Technology and Quality) Chung, Won-Sub (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) Cho, Young-Rae (School of Materials Science and Engineering, Pusan National University) |
1 | J. M. Kim, W. B. Choi, N. S. Lee and J. E. Jung, Diamond Relat. Mater., 9, 1184 (2000) DOI ScienceOn |
2 | H. J. Kim, J. H. Han, W. S. Yang, J. B. Yoo, C. Y. Park, I. T. Han, Y. J. Park, Y. W. Jin, J. E. Jung, N. S. Lee and J. M. Kim, Mater. Sci. Eng., 16, 27 (2001) DOI ScienceOn |
3 | N. S. Xu, Y. Chen, S. Z. Deng, J. Chen, X. C. Ma and E. G Wang, J. Phys. D: Appl. Phys., 34, 1597 (2001) DOI ScienceOn |
4 | W. I. Milne, K. B. K. Teo, M. Chhowalla, P. Legagneux, G. Prio and D. Pribat, SID 2002, Dig. Tech. Pap., 1120 (2002) |
5 | W. J. Zhao, A. Sawada and M. Takai, Jpn. J. Appl. Phys., 41, 4314 (2002) DOI |
6 | T. J. Vink, M. Gillies, J. C. Kriege and H. W. J. J. van de Laar, Appl. Phys. Lett., 83, 3552 (2003) DOI ScienceOn |
7 | M. S. Seong, J. S. Oh, J. E. Lee, S. J. Jung, T. S. Kim and Y. R. Cho, Kor. J. Mater. Res., 16, 37 (2006) 과학기술학회마을 DOI ScienceOn |
8 | Q. H. Wang, A. A. Setlur, J. M. Lauerhaas, J. Y. Dai, E. W. Seelig and R. P. H. Chang, Appl. Phys. Lett., 72, 2912 (1998) DOI ScienceOn |
9 | S. Iijima, Nature, 354, 56 (1991) DOI |
10 | W. B. Choi, D. S. Chung, J. H. Kang, H. Y. Kim, Y. W. Jin, I. T. Han, Y. H. Lee, J. E. Jung, N. S. Lee, G. S. Park and J. M. Kim, Appl. Phys. Lett., 75, 3129 (1999) DOI |
11 | S. Kang, C. Bae, W. Son, M. H. Kim, J. Yi, S. T. Lee, A. Chang, J. J. Kim, C. R. Lee, J. H. Moon, S. H. Lim, H. S. Kim and J. Jang, SID 2003, Dig. Tech. Pap., 802 (2003) |
12 | J. C. Ho, Y. Y. Chang, J. H. Liao, H. C. Cheng, J. R. Sheu, M. C. Hsiao, C. D. Lee, S. M. Huang, C. S. Cho, W. K. Huang, W. Y. Lin and C. C. Lee, SID 2002, Dig. Tech. Pap., 372 (2002) |
13 | R. Meyer, Tech. Dig. Euro Disp., 90, 26 (1990) |
14 | D. H. Kim, C. D. Kim and H. R. Lee, Carbon, 42, 1807 (2004) DOI ScienceOn |
15 | J. M. Bonard, J. P. Salvetat, T. Stockli, W. A. Heer, L. Forro, and A. Chatelain, Appl. Phys. Lett., 73, 918 (1998) DOI ScienceOn |
16 | Y. C. Kim, K. H. Sohn, Y. M. Cho and E. H. Yoo, Appl. Phys. Lett., 84, 5350 (2004) DOI ScienceOn |
17 | Y. J. An, J. E. Lee, K. E. Cheon, M. A. Karim, K. S. Kim, S. J. Jung and Y. R. Cho, FEW'06, 170 (2006) |
18 | S. Lee, W. B. Im, J. H. Kang and D. Y. Jeon, J. Vac. Sci. Technol., 23, 745 (2005) DOI ScienceOn |
19 | Y. R. Cho, J. H. Lee, C. S. Hwang, Y. H. Song, H. S. Uhm, D. H. Kim, S. D. Ahn, C. H. Chung, B. C. Kim and K. I. Cho, Jpn. J. Appl. Phys., 41, 1532 (2002) DOI |