1 |
E. A. Brandes and G. B. Brook, Smithells Metals Reference Book, 7th ed.(Butterworth-Henemann, Oxford, 1992), p,14-8
|
2 |
D. J. Srolovitz and M. G. Goldiner, J. Min. Met. Mater., 47, 31(1995)
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. Bischof, D. Scherer, S. Herminghaus and P. Leiderer, Phys. Rev. Lett., 77, 1536 (1996)
DOI
ScienceOn
|
4 |
X. Hu, D. G. Cahill and R. S. Averback, Appl. Phys. Lett., ?15, 3215 (2000)
DOI
ScienceOn
|
5 |
I. Maximov, A. Gustafsson, H. C. Hansson, L. Samuelson, W. Seifert and A. Wiedesohler, J. Vac. Sci. Technol., A 11, 748 (1993)
DOI
ScienceOn
|
6 |
X. Hu, D. G. Cahill and R. S. Averback, J. Appl. Phys., 89, 7777 (2001)
DOI
ScienceOn
|
7 |
T. Iwabuchi, C. Chung, G. Khitrova, M. E. Warren, A. Chavez-Pirson, H. M. Gibbs, D. Sarid and M. Gallagher, Proc. SPIE, 1284, 142 (1990)
DOI
|
8 |
A. Scherer and B. P. Van der Gaag, Proc. SPIE, 1284, 149 (1990)
DOI
|
9 |
J. M. Lee, S. W. Kim and S. J. Park, J. Electrochem. Soc., 148, G254 (2001)
DOI
ScienceOn
|
10 |
J. M. Lee, K. M. Chang, I. H. Lee and S. J. Park, J. Electrochem, Soc., 147, 1859 (2000)
DOI
ScienceOn
|
11 |
S. Herminghaus, K. Jacobs, K. Mecke, J. Bischof, A Fery, M. Ibn-Elhaj and S. Schlagowski, Science, 282, 916 (1998)
DOI
ScienceOn
|
12 |
S. Park, H. Schift, C. Padeste, B. Schnyder, R. Kotz and J. Gobrecht, Microelectron. Eng., 73-74, 196 (2004)
DOI
|