1 |
P. Poppl and G. Volkel, phys. Stat. Sol. (a), 125, 571 (1991)
DOI
|
2 |
V. Lujala, J. Skarp, M. Tammenmaa and T. Suntola, Appl. Surf. Sci., 82/83, 34 (1994)
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. Ye, S. Gu, S. Zhu, T. Chen, L. Hu, F. Qin, R. Zhang, Y. Shi and Y, Zheng, J. Cryst. Growth, 243, 151 (2002)
DOI
ScienceOn
|
4 |
W. G. Han, S. G. Kang, T. W. Kim, D. W. Kim and W. J. Cho, Appl. Surf. Sci., 245, 384 (2005)
DOI
ScienceOn
|
5 |
C. K. Lau, S. K. Tiku and K. M. Lakin, J. Electrochem. Soc., 127, 1843 (1980)
DOI
|
6 |
S. Liaug, C. R. Gorla, N. Emanetoglu, Y. Liu, W. E. Mayo and Y. Lu, J. Electron. Matter, 27, L72 (1998)
DOI
|
7 |
J. M. Lim, K. C. Shin and C. M. Lee, J. Mat. Sci., 39, 3195 (2004)
DOI
ScienceOn
|
8 |
K. Ogata, K. Sakurai, Sz. Fujita, Sg. Fufita and K. Matsushige, J. Crystal growth, 214/215, 312 (2000)
DOI
ScienceOn
|
9 |
S. H. Bae, S. Y. Lee, H. Y. Kim and S. Im, Optical Materials, 17, 327 (2001)
DOI
ScienceOn
|
10 |
X. L. Xu, S. P. Lau and B. K. Tay, Thin Solid Films, 244, 398 (2001)
|
11 |
D. C. Look and B. Claflin, Phys. Stat. Sol. (b), 624, 241 (2004)
|
12 |
J. M. Lim, K. C. Shin, H. W. Kim and C. M. Lee, Mat. Sci. & Eng. B, 107, 301 (2004)
DOI
ScienceOn
|