1 |
I. Niki, Y. Narukawa, D. Morita, S. Sonobe, T. Mitani, H. Tamaki, Y. Murazaki, M. Yamada and T. Mukai, Proc. of SPIE, 1587, 1 (2004)
|
2 |
Quan Li, I. W. Kim, S. A. Barnett and L. D. Marks, J. Mater. Res., 17, 1224 (2002)
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. Bai, T. Wang and S. Sakai, J. Appl. Phys., 88, 4729 (2000)
DOI
ScienceOn
|
4 |
X. H. Wu, D. Kapolnek, E. J. Tarsa, B. Heying, S. Keller, B. P. Keller, U. K. Mishra, S. P. DenBaars and J. S. Speck, Appl. Phys. Lett., 68, 1371 (1996)
DOI
|
5 |
J. Han, T. B. Ng, R. M. Biefeld, M. H. Crawford and D. M. Follstaedt, Appl. Phys. Lett., 71, 3114 (1997)
DOI
ScienceOn
|
6 |
B. Beaumont, Ph. Vennegus and P. Gibart, Phys. Stat. Sol., (b) 227, 1 (2001)
|
7 |
J. J. Wierer, M. R. Krames, J. E. Epler, N. F. Gardner, M. G. Craford, J. R. Wendt, J. A. Simmons and M. M. Sigalas, Appl. Phys. Lett., 84, 3885 (2004)
DOI
ScienceOn
|
8 |
S. Kim, J. Oh, J. Kang, D. Kim, J. Won, J. W. Kim and H. Cho, J. Crys. Growth, 262, 7 (2004)
DOI
ScienceOn
|
9 |
J. Shakya, K. H. Kim, J. Y. Lin and H. X. Jiang, Appl. Phys. Lett., 85, 142 (2004)
DOI
ScienceOn
|
10 |
S. J. Chang, C. S. Chang, Y. K. Su, R. W. Chuang, W. C. Lai, C. H. Kuo, Y. P. Hsu, Y. C. Lin, S. C. Shei, H. M. Lo, J. C. Ke and J. K. Sheu, IEEE Photon. Technol. Lett., 16, 1002 (2004)
DOI
ScienceOn
|
11 |
T. Fujii, Y. Gao, R. Sharma, E. L. Hu, S. P. DenBaars and S. Nakamura, Appl. Phys. Lett., 84, 855 (2004)
DOI
ScienceOn
|
12 |
C. Huh, K. Lee, E. Kang and S. Park, J. Appl. Phys., 93, 9383 (2003)
DOI
ScienceOn
|
13 |
Y. Kawakami, Y. Narukawa, K. Omae, SG. Fujita and S. Nakamura, Phys. Satatus Solidi, (a) 178, 331 (2000)
DOI
ScienceOn
|
14 |
F. Scholz, V. Harle, H. Bolay, F. Steuber, B. Kaufmann, G. Reyher, A. Dornen, O. Gfrorer, S. J. Im and A. Hangleiter, Solid-State Electron., 41, 141 (1997)
DOI
ScienceOn
|
15 |
R. Zheng and T. Taguchi, Proc. of SPIE, 4996, 105 (2003)
DOI
|
16 |
K. Orita, S. Tamura, T. Takizawa, T. Ueda, M. Yuri, S. Takigawa and D. Ueda, Jpn. J. Appl. Phys., 43, 5809 (2004)
DOI
|