1 |
K. Sato and H. Katayama-Yoshida, Jpn. J. Appl. Phys. 39, L555 (2000)
DOI
|
2 |
L. Forro, O. Chauvet, D. Emin and L. Zuppiroli, J. Appl. Phys. 75, 633 (1994)
DOI
ScienceOn
|
3 |
A. Twardowski, Acta Phys. Pol. A 98, 203 (2000)
|
4 |
T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert and D. Ferrand, Science, 287, 1019 (2000)
DOI
ScienceOn
|
5 |
Y. M. Cho, W. K. Choo, H. J. Kim, D. J. Kim and Y. E. Ihrn, Appl. Phys. Lett. 80, 3358 (2002)
DOI
ScienceOn
|
6 |
Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki, P. Ahmet, T. Chikyow, S.-Y. Koshihara and H. Koinuma, Science, 291, 854 (2001)
DOI
ScienceOn
|
7 |
S. A. Chambers, S. Thevuthasan, R. F. C. Farrow, R. F. Marks, J. U. Thiele, L. Folks, M. G. Samant, A. J. Kellock, N. Ruzycki, D. L. Ederer and U. Diebold, Appl. Phys. Lett. 79, 3467 (2001)
DOI
ScienceOn
|
8 |
I. B. Shim, S. Y. An, C. S. Kim, S. Y. Choi and Y. W. Park, J. Appl. Phys. 91, 7914 (2002)
DOI
ScienceOn
|
9 |
Y. Y. Kim, J. S. Baek, S. J. Lee, W. Y. Lim, S. C. Yu and S. H. Lee, IEEE Trans. Magn. 33, 3607 (1997)
DOI
ScienceOn
|