1 |
J. C. Slonczewski, J. Magn. Magn. Mater. 159, L1 (1996).
DOI
ScienceOn
|
2 |
K. Yagami, A. A. Tulapurkar, A. Fukushima, and Y. Suzuki,Appl. Phys. Lett. 85, 5634 (2004).
DOI
ScienceOn
|
3 |
J. Hayakawa, S. Ikeda, Y. M. Lee, R. Sasaki, T. Meguro, F.Matsukura, H. Takahashi, and H. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys. Part 2 44, L1267 (2005).
DOI
|
4 |
M. Pakala, Y. Huai, T. Valet, Y. Ding, and Z. Diao, J. Appl. Phys. 98, 056107 (2005).
DOI
ScienceOn
|
5 |
D. C. Worledge, Appl. Phys. Lett. 84, 2847 (2004).
DOI
ScienceOn
|
6 |
J. K. Han, K. H. Shin, and S. H. Lim, J. Magn. Magn. Mater.310, 2339 (2007).
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. K. Han, K. H. Shin, and S. H. Lim. J. Appl. Phys. 101,09F506 (2007).
DOI
|
8 |
D. H. Lee, C. W. Han, and S. H. Lim, J. Korean Phys. Soc. 54,169 (2009).
DOI
ScienceOn
|
9 |
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. M. Lee, F. Matsukura, Y. Ohno, T.Hanyu, and H. Ohno, IEEE Trans. Electron Devices 54, 991(2007).
DOI
ScienceOn
|
10 |
J. Hayakawa, S. Ikeda, Y. M. Lee, R. Sasaki, T. Meguro, F.Matsukura, H. Takahashi, and H. Ohno, Jpn. J. Appl. Phys. 45,L1057 (2006).
DOI
|
11 |
J. K. Han, J. H. NamKoong, and S. H. Lim, J. Phys. D 41,232005 (2008).
DOI
ScienceOn
|
12 |
D. C. Worledge, Appl. Phys. Lett. 84, 4559 (2004).
DOI
ScienceOn
|
13 |
H. Fujiwara, S. Y. Wang, and M. Sun, J. Appl. Phys. 97,10P507 (2005).
DOI
|
14 |
J. Hayakawa, S. Ikeda, K. Miura, M. Yamanouchi, Y. M. Lee,R. Sasaki, M. Ichimura, K. Ito, T. Kawahara, R. Takemura, T.Meguro, F. Matsukura, H. Takahashi, H. Matsuoka, and H.Ohno, IEEE Trans. Magn. 44, 1962 (2008).
DOI
ScienceOn
|