1 |
Fortunato E, P. Barquinha, A. Pimentel, A. Goncalves, A. Marques, L. Pereira, and R. Martins, Thin Solid Films. 487, 205-211 (2005).
DOI
|
2 |
D. M. Bagnall, Y. F. Chen, Z. Zhu, T. Yao, S. Koyama, M. Y. Shen, and T.Goto, Appl. Phys. Lett. 70, 2230 (1997).
DOI
|
3 |
M. H. Huang, S. Mao, H. Feick, H. Yan, Y. Wu, H. Kind, E. Weber, R. Russo, and P. Yang, SCIENCE. 292, 1897. (2001)
|
4 |
K. G. Yim, M. S. Kim, G. S. Kim, H. Y. Choi, S. M. Jeon, M. Y. Cho, H. G. Kim, D. Y. Lee, J. S. Kim, and J. S. Kim, Journal of the Korean Vacuum Society. 19, 281. (2010).
DOI
|
5 |
M. Y. Choi, D. Choi, M. J. Jin, I. Kim, S. H. Kim, Y. J. Choi, S. Y. Lee. J. M. Kim, and S. W. Kim, Advanced Materials. 21, 2185 (2009).
DOI
|
6 |
H. Yu, Z. Zhang, M. Han, X. Hao, and F. Zhu, J. Am. Chem. Soc. 127, 2378 (2005).
DOI
|
7 |
A. Sugunan, H. C. Warad, M. Boman, and J. Dutta, J. of Sol-Gel Science Techn. 39, 49 (2006).
DOI
|
8 |
P. Bhattacharyya,P. K. Basu, H. Saha, and S. Basu, Sensors and Actuators B. 124, 62 2007).
DOI
|
9 |
D. Y. Kim, H. M. Kang, and H. J. Kim, Journal of the korean vacuum society. 19, 177 (2010).
DOI
|
10 |
D. C. Look, D. C. Reynolds, C. W. Litton, R. L. Jones, D. B. Eason, and G. Cantwell, Appl. Phys. Lett. 81, 1830 (2002).
DOI
|
11 |
S. H. Jeong, B. S. Kim, and B. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 82, 2625 (2003)
DOI
|
12 |
X. W. Sun and H. S. Kwok, J. Appl. Phys. 86, 408 (1999).
DOI
|
13 |
A. Yamada, B. Sang, and M. Konagai, Applied Surface Science. 112, 216 (1997)
DOI
|
14 |
D. J. Park, T. H. Kang, D. S. Kim, H. T. Kim, and S. B. Choi, Journal of the Korean Physical Society. 71, 467 (2017)
DOI
|
15 |
Y. C. Kong, D. P. Yu, B. Zhang, W. Fang, and S. Q. Feng, Appl. Phys. Lett. 78, 407 (2001)
DOI
|