1 |
R. A. Pala, J. White, E. Barnard, J. Liu, and M. L. Brongersma, Adv. Mater. 21, 3504 (2009).
DOI
|
2 |
K. R. Catchpole and A. Polman, Appl. Phys. Lett. 93, 191113 (2008).
DOI
|
3 |
K. Nakayama, K. Tanabe, and H. A. Atwater, Appl. Phys. Lett. 93, 121904 (2008).
DOI
|
4 |
D.-J. Lee, H.-D. Yim, Y.-G. Kim, Y.-B. Jeong, T. Y. Kim, C. K. Hwangbo, Y. C. Jun, S.-G. Park, S.-G. Lee, and B.-H. O J. Korean Phys. Soc. 63, 2098 (2013).
DOI
|
5 |
D.-M. Yeh, C.-F. Huang, C.-Y. Chen, Y.-C. Lu, and C C Yang, Nanotechnology 19, 345201 (2008).
DOI
|
6 |
X. Li, W. C. H. Choy, L. Huo, F. Xie, W. E. I. Sha, B. Ding, X. Guo, Y. Li, J. Hou, J. You, and Y. Yang, Adv. Mater. 24, 3046 (2012).
DOI
|
7 |
X. Li, W. C. H. Choy, H. Lu, W. E. I. Sha, and A. H. P. Ho, Adv. Funct. Mater. 23, 2728 (2013).
DOI
|
8 |
W.-J. Ho, Y.-Y. Lee, C.-H. Hu, and R.-S. Sue, Thin Solid Films doi:10.1016/j.tsf.2016.05.019 (2016).
DOI
|
9 |
K. V. Baryshnikova, M. I. Petrov, V. E. Babicheva, and P. A. Belov, Sci. Rep. doi: 10.1038/srep22136 (2016).
DOI
|
10 |
D. H. Kim, S. H. Yu, J. Yi, J. H. Kwon, and J. S. Gwag, J. Korean Phys. Soc. 63, 1156 (2013).
DOI
|
11 |
T. Minami, Thin Solid Films 516, 1314 (2008).
DOI
|
12 |
O. N. Mryasov and A. J. Freeman, Phys. Rev. B 64, 233111 (2001)
DOI
|
13 |
S. W. Hsu, K. On, and A. R. Alivisatos, J. Am. Chem. Soc. 134, 3995 (2011).
|
14 |
S.-W. Hsu, W. Bryks, and A. R. Tao, Chem. Mater. 24, 3765 (2012).
DOI
|