1 |
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1038/nature03090]
DOI
|
2 |
K. Nomura, A. Takagi, T. Kamiya, H. Ohta, M. Hirano, and H. Hosono, Jpn. J. Appl. Phys., 45, 4303 (2006). [DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.45.4303]
DOI
|
3 |
J. M. Lee, I. T. Cho, J. H. Lee, and H. I. Kwon, Appl. Phys. Lett., 93, 093504 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2977865]
DOI
|
4 |
A. Suresh and J. F. Muth, Appl. Phys. Lett., 92, 033502 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2824758]
DOI
|
5 |
K. Nomura, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 95, 013502 (2009). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.3159831]
DOI
|
6 |
I. J. Kang, C. H. Park, E. G. Chong, and S. Y. Lee, Current Appl. Phys., 9 (2012).
|
7 |
J. Y. Choi, S. S. Kim, and S. Y. Lee, Thin Solid Films., 520 (2012).
|
8 |
T. S. Kamiya, K. J. Nomura, and H. Hosono, Sci. Technol. Adv. Mater., 11, 044305 (2010). [DOI: https://doi.org/10.1088/1468-6996/11/4/044305]
DOI
|
9 |
E. G. Chong, Y. W. Jeon, Y. S. Chun, D. H. Kim, and S. Y. Lee, IEEE Electron Device Lett., 32, 1 (2011). [DOI: https://doi.org/10.1109/LED.2010.2089038]
DOI
|