1 |
R.B.M. Cross and M. M. De. Souza, Appl. Phys. Lett., 89, 263513 (2006).
DOI
ScienceOn
|
2 |
K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004).
DOI
ScienceOn
|
3 |
K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Science, 23, 1269 (2003).
DOI
ScienceOn
|
4 |
J. S. Park, K. S. Kim, Y.-G. Park, Y. G. Mo, H. D. Kim, and J. K. Jeong, Adv. Mater., 21, 329 (2009).
DOI
ScienceOn
|
5 |
E. Chong, S. H. Kim, and S. Y. Lee, Appl. Phys. Lett., 97, 252112 (2010).
DOI
ScienceOn
|
6 |
K. H. Choi, Y.Y. Choi, J. A Jeong, H.K. Kim, and S. Jeon, Electrochemical and Solid-State Letters, 14, 152 (2011).
DOI
ScienceOn
|
7 |
K. Nomura, T. Kamiya, H. Yanagi, E. Ikenaga, K. Yang, K. Kobayashi, M. Hirano, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 92, 202117 (2008).
DOI
ScienceOn
|
8 |
R.B.M. Crossa and M. M. De Souza, Appl. Phys. Lett., 89, 263513 (2006).
DOI
ScienceOn
|
9 |
K. Jeon, C. Kim, I. Song, J. Park, S. Kim, S. Kim, Y. Park, J. H. Park, S. Lee, D. M. Kim, and D. H. Kim, Appl. Phys. Lett., 93, 182102 (2008).
DOI
ScienceOn
|
10 |
S. Lee, H. Park, and D. C. Paine, Appl. Phys., 109, 063702 (2011).
DOI
ScienceOn
|
11 |
P. Barquinha, A. M. Vilà, G. Gonçalves, L. Pereira, R. Martins, J. R. Morante, and E. Fortunato, IEEE Transactions on Electron Devices, 55, 4, (2008).
DOI
ScienceOn
|