1 |
Z. L. Wang, Ann. Rev. Mater. Res., 55, 159 (2004).
|
2 |
C. Li, D. H. Zhang, B. Lei, S. Han, X. L. Liu, and C. W. Zhou, J. Phys. Chem. B, 107, 12451 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/jp0361531].
DOI
ScienceOn
|
3 |
M. W. Ahn, K. S. Park, J. H. Heo, J. G. Park, D. W. Kim, K. J. Choi, J. H. Lee, and S. H. Hong, Appl. Phys. Lett., 93, 263103/1 (2008).
|
4 |
W. F. Zhang, Z. B. He, G. D. Yuan, J. S. Jie, L. B. Luo, X. J. Zhang, Z. H. Chen, C. S. Lee, W. J. Zhang, and S. T. Lee, High Performance, Appl. Phys. Lett., 94, 123103/1 (2009).
|
5 |
W. Zhang, J. Jie, Z. He, S. Tao, X. Fan, Y. Zhou, G. Yuan, L. Luo, W. Zhang, C. Lee, and S. Lee, Appl. Phys. Lett., 92, 153312/1 (2008).
|
6 |
M. W. Ahn, K. S. Park, J. H. Heo, J. G. Park, D. W. Kim, K. J. Choi, J. H. Lee, and S. H. Hong, Appl. Phys. Lett., 93, 263103/1 (2008).
|
7 |
T. J. Hsueh, C. L. Hsu, S. J. Chang, and I. C. Chen, Sens. Actuators B: Chem., 126, 473 (2007). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2007.03.034].
DOI
ScienceOn
|
8 |
Z. Yanga, Y. Huang, G. Chen, Z. Guoc, S. Cheng, and S. Huange, Sensors and Actuators B, 140, 549 (2009). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.snb.2009.04.052].
DOI
ScienceOn
|
9 |
A. Kolmakov and M. Moskovits, Ann. Rev. Mater. Res., 34, 151 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1146/annurev.matsci.34.040203.112141].
DOI
ScienceOn
|
10 |
J. G. Lu, P. Chang, and Z. Fan, Mater. Sci. Eng. R, 52, 49 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.mser.2006.04.002].
DOI
ScienceOn
|
11 |
E. S. Snow, F. K. Perkins, and J. A. Robinson, Chem. Soc. Rev., 35, 790 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1039/b515473c].
DOI
ScienceOn
|
12 |
P. C. Chen, G. Shen, and C. Zhou, IEEE Trans. Nanotech., 7, 668 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1109/TNANO.2008.2006273].
DOI
ScienceOn
|
13 |
K. W. Kim, Y. W. Song, S. P. Chang, I. H. Kim, S. S. Kim, and S. Y. Lee, Thin Solid Films, 518, 1190 (2009). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2009.03.229].
DOI
ScienceOn
|
14 |
N. O. Korsunska, L. V. Borkovska, B. M. Bulakh, L. Yu. Khomenkova, V. I. Kushnirenko, and I. V. Markevich, J. Lumin., 102/103, 733 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/S0022-2313(02)00634-8].
DOI
ScienceOn
|
15 |
K. Vanheusden, W. L. Warren, C. H. Seager, D. R. Tallant, J. A. Voigt, and B. E. Gnade, J. Appl. Phys., 79, 7983 (1996). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.362349].
DOI
ScienceOn
|
16 |
J. Zhong, S. Muthukumar, Y. Chen, Y. Lu, H. M. Ng, W. Jiang, and E. L. Garfunkel, Appl. Phys. Lett., 83, 3401 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1621729].
DOI
ScienceOn
|
17 |
D. H. Zhang, Z. Q. Liu, C. Li, T. Tang, X. L. Liu, S. Han, B. Lei, and C. W. Zhou, Nano Lett., 4, 1919 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/nl0489283].
DOI
ScienceOn
|
18 |
D. H. Zhang, C. Li, X. L. Liu, S. Han, T. Tang, and C. W. Zhou, Appl. Phys. Lett., 83, 1845 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1604194].
DOI
ScienceOn
|