1 |
X. M. Liu, Z. D. Huang, S. W. Oh, B. Zhang, P. C. Ma, M. M. F. Yuen, and J. K. Kim, Compos. Sci. Technol., 72, 121 (2012). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.compscitech.2011.11.019].
DOI
|
2 |
X. Y. Zhao, D. G. Xia, and K. Zheng, J. Alloys Comp., 513, 460 (2012). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2011.10.081].
DOI
|
3 |
S. K. Martha, N. J. Dudney, J. O. Kiggans, and J. Nanda, J. Electrochem. Soc., 159, 1652 (2012). [DOI: http//dx.doi.org/10.1149/2.041210jes].
DOI
|
4 |
T. H. Park, J. S. Yeo, M. H. Seo, J. Miyawaki, I. Mochida, and S. H. Yoon, Electrochim. Acta, 93, 236 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2012.12.124].
DOI
|
5 |
X. G. Zhao, E. M. Jin, and H. B. Gu, Appl. Surf. Sci., 287, 8 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.09.017].
DOI
|
6 |
V. H. Nguyen, E. M. Jin, and H. B. Gu, J. Power Sources, 244, 586 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2013.01.073].
DOI
|
7 |
P. C. Lian, X. F. Zhu, S. Z. Liang, Z. Li, W. S. Yang, and H. H. Wang, Electrochim. Acta, 55, 3909 (2010). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2010.02.025].
DOI
|
8 |
J. Y. Jang, M. S. Kim, H. M. Jeong, and C. M. Shin, Compos. Sci. Technol., 69, 186 (2009). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.compscitech.2008.09.039].
DOI
ScienceOn
|
9 |
X. H. Rui, N. Ding, J. Liu, C. Li, and C. H. Chen, Electrochim. Acta, 55, 2384 (2010). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2009.11.096].
DOI
ScienceOn
|
10 |
Z. M. Cui, L. Y. Jiang, W. G. Song, and Y. G. Guo, Chem. Mater., 21, 1162 (2009). [DOI: http//dx.doi.org/10.1021/cm8033609].
DOI
|
11 |
P. He, X. Zhang, Y. G. Wang, L. Cheng, and Y. Y. Xia, J. Electrochem. Soc., 155, A144 (2008). [DOI: http//dx.doi.org/10.1149/1.2815609].
DOI
|
12 |
X. H. Rui, N. Yesibolati, S. R. Li, C. C. Yuan, and C. H. Chen, Solid State Ionics, 187, 58 (2011). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.ssi.2011.02.013].
DOI
|
13 |
S. Mitra, P. Poizot, A. Finke, and J. M. Tarascon, Adv. Funct. Mater., 16, 2281 (2006). [DOI: http//dx.doi.org/10.1002/adfm.200500753].
DOI
|
14 |
V. H. Nguyen, W. L. Wang, E. M. Jin, and H. B. Gu, J. Alloys Comp., 569, 29 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2013.03.139].
DOI
|
15 |
W. L. Wang, E. M. Jin, and H. B. Gu, Surf. Rev. Lett., 20, 1350009 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1142/S0218625X13500091].
DOI
|
16 |
X. Lu, L. Zhao, X. Q. He, R. J. Xiao, L. Gu, Y. S. Hu, H. Li, Z. X. Wang, X. F. Duan, L. Q. Chen, J. Maier, and Y. Ikuhara, Adv. Mater., 24, 3233 (2012). [DOI: http//dx.doi.org/10.1002/adma.201200450].
DOI
|
17 |
P. Poizot, S. Laruelle, S. Grugeon, L. Dupont, and J. M. Tarascon, Nature, 407, 496 (2000). [DOI: http//dx.doi.org/10.1038/35035045].
DOI
ScienceOn
|
18 |
S. W. Hwang, A. Umar, S. H. Kim, S. A. Al-Sayari, M. Abaker, A. Al-Hajry, and A. M. Stephan, Electrochim. Acta, 56, 8534 (2011). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2011.07.033].
DOI
|
19 |
L. Taberna, S. Mitra, P. Poizot, P. Simon, and J. M. Tarascon, Nat. Mater., 5, 567 (2006). [DOI: http//dx.doi.org/10.1038/nmat1672].
DOI
ScienceOn
|
20 |
W. M. Zhang, X. L. Wu, J. S. Hu, Y. G. Guo, and L. J. Wan, Adv. Funct. Mater., 18, 3841 (2008).
|
21 |
B. Jin, A. H. Liu, G. Y. Liu, Z. Z. Yang, X. B. Zhong, X. Z. Ma, M. Yang, and H. Y. Wang, Electrochim. Acta, 90, 426 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.electacta.2012.11.114].
DOI
|
22 |
M. J. Hu, Y. Z. Jiang, and M. Yan, J. Alloys Comp., 582, 563 (2014). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2013.08.098].
DOI
|
23 |
Y. X. Ma, Y. F. Li, G. H. Zhao, L. Q. Yang, J. Z. Wang, X. Shan, and X. Yan, Carbon, 50, 2976 (2012). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2012.02.080].
DOI
|
24 |
G. Gao, P. Y. Qiu, Q. R. Qian, N. Zhou, K. Wang, H. Song, H. L. Fu, and D. X. Cui, J. Alloys Comp., 574, 340 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2013.05.050].
DOI
|
25 |
B. Zhao, R. Z. Liu, X. H. Cai, Z. Jiao, M. H. Wu, X. T. Jing, B. Lu, and Y. Jiang, J. Appl. Electrochem., 44, 53 (2014). [DOI: http//dx.doi.org/10.1007/s10800-013-0599-1].
DOI
|
26 |
B. Y. Jung, H. S. Lim, Y. K. Sun, and K. D. Suh, J. Power Sources, 244, 177 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2013.02.035].
DOI
|
27 |
D. W. Su, H. J. Ahn, and G. X. Wang, J. Power Sources, 244, 742 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2012.11.058].
DOI
|
28 |
S. Komaba, K. Shimomura, N. Yabuuchi, T. Ozeki, Y. Yui, and K. Konno, J. Phys. Chem. C, 115, 13487 (2011). [DOI: http//dx.doi.org/10.1021/jp201691g].
DOI
ScienceOn
|
29 |
W. L. Wang, V. H. Nguyen, E. M. Jin, and H. B. Gu, Mater. Express, 3, 273 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1166/mex.2013.1124].
DOI
|
30 |
B. Jin, E. M. Jin, K. H. Park, and H. B. Gu, Electrochem. Commun., 10, 1537 (2008). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.elecom.2008.08.001].
DOI
|
31 |
V. H. Nguyen, W. L. Wang, E. M. Jin, and H. B. Gu, Appl. Surf. Sci., 282, 444 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.05.149].
DOI
|
32 |
W. L. Wang, V. H. Nguyen, and H. B. Gu, Appl. Surf. Sci., 288, 742 (2014). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2013.09.129].
DOI
|
33 |
K. T. Lee, Y. S. Jung, and S. M. Oh, J. Am. Chem. Soc., 125, 5652 (2003). [DOI: http//dx.doi.org/10.1021/ja0345524].
DOI
ScienceOn
|
34 |
L. Jabbour, M. Destro, D. Chaussy, C. Gerbaldi, S. Bodoardo, N. Penazzi, and D. Beneventi, Compos. Sci. Technol., 87, 232 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.compscitech.2013.07.029].
DOI
|
35 |
L. M. Suo, Y. S. Hu, H. Li, M. Armand, and L. Q. Chen, Nat. Commun., 4, 1481 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1038/ncomms2513].
DOI
|
36 |
A. P. Hu, X. H. Chen, Y. H. Tang, Q. L. Tang, L. Yang, and S. P. Zhang, Electrochem. Commun., 28, 139 (2013). [DOI: http//dx.doi.org/10.1016/j.elecom.2012.12.024].
DOI
|