1 |
A. K. Padhi, K. S. Nanjundaswamy, and J. B. Goodenough, J. Electrochem. Soc., 144, 1188 (1997). DOI: 10.1149/1.1837571.
DOI
ScienceOn
|
2 |
N. N. Bramnik, K.G. Bramnik, T. Buhrmester, C. Baehtz, H. Ehrenberg, and H. Fuess, J. Solid State Electrochem., 8, 558 (2004). DOI: 10.1007/s10008-004-0497-x.
DOI
|
3 |
V. H Nguyen, W. L. Wang, E. M. Jin, and H. B. Gu, J. Alloys Compd., 569, 29 (2013). DOI: 10.1016/j.jallcom.2013.03.139.
DOI
|
4 |
S. Y. Chung, J. T. Bloking, and Y. M. Chiang, Nat. Mat., 1, 123 (2002). DOI: 10.1038/nmat732.
DOI
ScienceOn
|
5 |
N. J. Yun, H. W. Ha, K. H. Jeong, H. Y. Park, and K. Kim, J. Power Sources, 160, 1361 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2006.02.097].
DOI
ScienceOn
|
6 |
S. Y. Chung and Y. M. Chiang, Electrochem. Solid-State Lett., 6, A278 (2003). DOI: 10.1149/1.1621289.
DOI
ScienceOn
|
7 |
S. Q. Shi, L. J. Liu, C. Y. Ouyang, D. S. Wang, Z. X. Wang, L. Q. Chen, and X. J. Huang, Phys. Rev., B, 68, 195108 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.68.195108].
DOI
|
8 |
E. M. Jin, B. Jin, D. K. Jun, K. H. Park, H. B. Gu, and K. W. Kim, Power Sources, 178, 801 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2007.09.073].
DOI
|
9 |
D. W. Choi and P. N. Kumta, J. Power Sources, 163, 1064 (2007). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2006.09.082].
DOI
ScienceOn
|
10 |
Y. Lin, Y. Lin, B. Zheng, G. Zhao, T. Zhou, M. Chen, X. Mao, H. Lai, and Z. Huang, Int. J. Electrochem. Sci., 6, 6653 (2011).
|
11 |
J. F. Ni, H. H. Zhou, J. T. Chen, and X. X. Zhang, Materials Letters, 59, 2361 (2005). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.matlet.2005.02.080].
DOI
ScienceOn
|
12 |
V. H. Nguyen, E. M. Jin, and H. B. Gu, J. Power Sources, 244, 586 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.jpowsour.2013.01.073].
DOI
|
13 |
X. H. Rui, N. Ding, J. Liu, C. Li, and C. H. Chen, J. Electrochem. Acta., 55, 2384 (2010).
DOI
ScienceOn
|
14 |
B. Jin, E. M. Jin, K. H. Park, and H. B. Gu, Electrochem. Commun., 10, 1537 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.elecom.2008.08.001].
DOI
|