1 |
W. T. Lim, L, Voss, R, Khanna, B. P. Gila, D. P. Norton, S. J. Pearton, F. Ren, Appl. Surf. Sci. 253, 889 (2006) [DOI: 10.1016/ j.apsusc.2006.01.037].
DOI
ScienceOn
|
2 |
X. Z. Fan, G. Xie, S. P. Chen, S. L. Gao, Q. Z. Shi, Thermochim. Acta. 413, 87 (2004) [DOI:10.1016/j.tca.2003.12.025].
DOI
ScienceOn
|
3 |
F. Zong, H. Ma, C. Xue, H. Zhuang, Xi. Zhang, H. Xiao, J. Ma, F. Ji, Solid State Commun. 132, 521 (2004) [DOI:10.1016/ j.ssc.2004.09.011].
DOI
ScienceOn
|
4 |
T. Suda, K. Kakishita, J. Appl. Phys. 99, 076101 (2006) [DOI:10.1063/1.2180541].
DOI
ScienceOn
|
5 |
N. Tabet, M. Faiz, A. Al-Oteibi, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 163, 15 (2008) [DOI:10.1016/j.elspec.2007.11.003].
DOI
ScienceOn
|
6 |
M. Futsuhara, K. Yoshioka, O. Takai, Thin Solid Films 322, 274 (1998) [DOI:10.1016/S0040-6090(97)00910-3].
DOI
ScienceOn
|
7 |
J. C. Woo, Y. H. Joo, J. S. Park, C. I. Kim, Trans. Electr. Electron. Mater. 144, 12 (2011).
DOI
ScienceOn
|
8 |
J. C. Woo, D. S. Um, C. I. Kim, Thin Solid Films 2905, 518 (2010) [DOI:10.1016/j.tsf.2009.10.144].
DOI
ScienceOn
|
9 |
D. C. Look, Mater. Sci. Eng. B 80, 383 (2001) [DOI: 10.1016/ S0921-5107(00)00604-8].
DOI
ScienceOn
|
10 |
P. Zu, Z.K. Tang, G.K.L. Wong, M. Kawasaki, A. Ohtomo, K. Koinuma and Y. Sagawa, Solid State Commun. 103. 459 (1997) [DOI:10.1016/S0038-1098(97)00216-0].
DOI
ScienceOn
|
11 |
D. C. Look, D. C. Reynolds, J. R. Sizelove, R. L. Jones, C.W. Litton, G. Cantwell, W.C. Harsch, Solid State Commun. 105, 399 (1998) [DOI:10.1016/S0038-1098(97)10145-4].
DOI
ScienceOn
|
12 |
J. C. Woo, G. H. Kim, J. G. Kim, C. I. Kim, Surf. Coat. Technol. 202, 5705 (2008) [DOI:10.1016/j.surfcoat.2008.06.077].
DOI
ScienceOn
|
13 |
J. C. Woo, D. S. Um, C. I. Kim, Thin Solid Films 518, 2905 (2010) [DOI:10.1016/j.tsf.2009.10.144].
DOI
ScienceOn
|
14 |
S. W. Na, M. H. Shin, Y. M. Chung, J.G. Jeung, J. H. Boo, N.E. Lee, Microelectron. Eng. 83, 328 (2006) [DOI:10.1016/ j.mee.2005.09.007].
DOI
ScienceOn
|