1 |
K. Yoshida, R. Sato, T. Yokota, Y. Kishimoto and H. Date, Jpn. J. Appl. Phys. 50, 120210 (2011).
|
2 |
K. Yoshida, S. Mori, Y. Kishimoto, H. Ohuchi, H. Hasegawa, M. Shimozuma and H. Tagashira, J. Phys. D: Appl. Phys. 38, 1918 (2005).
DOI
|
3 |
Y. Shin, Y. Akiyama, N. Imaishi and S. Jung, Eng. Sci. Rept., Kyushu University 25, 1 (2003).
|
4 |
S. Hattori, TREND 4, 19 (2001) [in Japanese].
|
5 |
Y. Kudoh, Y. Homma, N. Sakuma, T. Furusawa and K. Kusukawa, Jpn. J. Appl. Phys. 37, 1145 (1998).
DOI
|
6 |
R. Navamathavan, A. S. Jung, C. Y. Kim and C. K. Choi, J. Korean Phys. Soc. 53, 1468 (2008).
DOI
|
7 |
B. H. Jeon, J. Korean Phys. Soc. 43, 513 (2003).
|
8 |
J. Dutton, J. Phys. Chem. Ref. Data 4, 577 (1975).
DOI
|
9 |
A. E. D. Heylen, J. Phys. D: Appl. Phys. 1, 179 (1968).
DOI
|
10 |
D. A. Price and J. L. Moruzzi, J. Phys. D: Appl. Phys. 6, L17 (1973).
DOI
|
11 |
P. X. Hien, B. H. Jeon and D. A. Tuan, J. Phys. Soc. Jpn. 82, 034301-1-8 (2013).
DOI
|
12 |
M. Kurachi and Y. Nakamura, J. Physics. D: Appl. Phys. 22, 107 (1989).
DOI
|
13 |
W. L. Morgan, C. Winstead and V. McKoy, J. Appl. Phys. 92, 1663 (2002).
DOI
|
14 |
D. A. Tuan and B. H. Jeon, J. Phys. Soc. Jpn. 81, 064301-1-8 (2012).
DOI
|
15 |
H. Tagashira, Y. Sakai, and S. Sakamoto, J. Phys. D 10, 1051 (1977).
DOI
|
16 |
P. X. Hien, D. A. Tuan and B. H. Jeon, J. Korean Phys. Soc. 61, 62 (2012).
DOI
|
17 |
I. D. Reid, Aust. J. Phys. 32, 231 (1979).
DOI
|
18 |
I. D. Reid and S. R. Hunter, Aust. J. Phys. 32, 255 (1979).
DOI
|
19 |
M. Itoh, M. Kawaguchi, K. Satoh, Y. Miura and H. Tagashira, J. Phys. D: Appl. Phys. 23, 299 (1990).
DOI
|
20 |
K. Yoshida, S. Goto, H. Tagashira, C. Winstead, B. V. McKoy and W. L. Morgan, J. Phys. D: APPL. PHYS. 91, 2637 (2002).
DOI
|
21 |
K. Yoshida, R. Sato, T. Yokota, Y. Kishimoto and H. Date, Jpn. J. Appl. Phys. 50, 120210 (2011).
|
22 |
H. R. Skullerud, J. Phys. D: Appl. Phys. 1, 1567 (1968).
DOI
|
23 |
Y. Sakai, H. Tagashira and S. Sakamoto, J. Phys. D: Appl. Phys. 10, 1035 (1977).
DOI
|
24 |
Y. Nakamura and M. Kurachi, J. Phys. D: Appl. Phys. 21, 718 (1988).
DOI
|