1 |
Friedman, H. L. Annu. Rev. Phys. Chem. 1981, 32, 179, DOI: 10.1146/annurev.pc.32.100181.001143.
DOI
|
2 |
Jarek, R. L.; Shin, S. K. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 10501, DOI: 10.1021/ja971841h.
DOI
|
3 |
Ohtani, H.; Hirao, Y.; Ito, A.; Tanaka, K.; Hatozaki, O. J. Therm. Anal. Calorim. 2010, 99, 139, DOI: 10.1007/s10973-009-0520-7.
DOI
|
4 |
Petersen, G.; Jacobsson, P.; Torell, L. M. Electrochim. Acta 1992, 37, 1495, DOI: 10.1016/0013-4686(92)80097-6.
DOI
|
5 |
Ziegler, M. J.; Madura, J. D. J. Solution Chem. 2011, 40, 1383, DOI: 10.1007/s10953-011-9732-0.
DOI
|
6 |
Ahonen, L.; Li, C.; Kubecka, J.; Iyer, S.; Vehkamaki, H.; Petaja, T.; Kulmala, M.; Hogan Jr, C. J. J. Phys. Chem. Lett. 2019, 10, 1935, DOI: 10.1021/acs.jpclett.9b00453.
DOI
|
7 |
Ouyang, H.; Larriba-Andaluz, C.; Oberreit, D. R.; Hogan, C. J. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2013, 24, 1833, DOI:10.1007/s13361-013-0724-8.
DOI
|
8 |
Wei, Z.; Li, Y.; Cooks, R. G.; Yan, X. Annu. Rev. Phys. Chem. 2020, 71, 31, DOI: 10.1146/annurev-physchem-121319-110654.
DOI
|
9 |
Xu, K. Chem. Rev. 2004, 104, 4303, DOI: 10.1021/cr030203g.
DOI
|
10 |
Hyun, J.-K.; Dong, H.; Rhodes, C. P.; Frech, R.; Wheeler, R. A. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 3329, DOI: 10.1021/jp003591o.
DOI
|
11 |
Jarek, R.; Denson, S. C.; Shin, S. K. J. Chem. Phys. 1998, 109, 4258, DOI: 10.1063/1.477031.
DOI
|
12 |
Jarek, R. L.; Miles, T. D.; Trester, M. L.; Denson, S. C.; Shin, S. K. J. Phys. Chem. A 2000, 104, 2230, DOI:10.1021/jp9908193.
DOI
|
13 |
Khartabil, H. K.; Gros, P. C.; Fort, Y.; Ruiz-Lopez, M. F. J. Org. Chem. 2008, 73, 9393, DOI: 10.1021/jo8019434.
DOI
|
14 |
Tretyakov, D. O.; Prisiazhnyi, V. D.; Gafurov, M. M.; Rabadanov, K. S.; Kirillov, S. A. J. Chem. Eng. Data 2010, 55, 1958, DOI: 10.1021/je9009249.
DOI
|
15 |
Calabrese, V.; Lavanant, H.; Rosu, F.; Gabelica, V.; Afonso, C. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2020, 31, 969, DOI: 10.1021/jasms.0c00034.
DOI
|
16 |
Rovelli, G.; Jacobs, M. I.; Willis, M. D.; Rapf, R. J.; Prophet, A. M.; Wilson, K. R. Chem. Sci. 2020, 11, 13026, DOI: 10.1039/d0sc04611f.
DOI
|
17 |
Mochizuki, S.; Wakisaka, A. J. Phys. Chem. A 2002, 106, 5095, DOI: 10.1021/jp014583q.
DOI
|
18 |
Mason, E. A.; McDaniel, E. W., Transport Properties of Ions in Gases. Wiley: 1988, DOI: 10.1002/3527602852.
|
19 |
Weigend, F. Phys. Chem. Chem. Phys. 2006, 8, 1057, DOI: 10.1039/b515623h.
DOI
|
20 |
Rossky, P. J.; Dudowicz, J. B.; Tembe, B. L.; Friedman, H. L. J. Chem. Phys. 1980, 73, 3372, DOI: 10.1063/1.440533.
DOI
|
21 |
Pritchard, B. P.; Altarawy, D.; Didier, B.; Gibson, T. D.; Windus, T. L. J. Chem. Inf. Model. 2019, 59, 4814, DOI:10.1021/acs.jcim.9b00725.
DOI
|
22 |
Ritchie, J. P.; Bachrach, S. M. J. Comput. Chem. 1987, 8, 499, DOI: 10.1002/jcc.540080430.
DOI
|
23 |
Coots, J.; Gandhi, V.; Onakoya, T.; Chen, X.; Larriba-Andaluz, C. J. Aerosol Sci. 2020, 147, 105570, DOI:10.1016/j.jaerosci.2020.105570.
DOI
|
24 |
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Scalmani, G.; Barone, V.; Petersson, G. A.; Nakatsuji, H.; Li, X.; Caricato, M.; Marenich, A.; Bloino, J.; Janesko, B. G.; Gomperts, R.; Mennucci, B.; Hratchian, H. P.; Ortiz, J. V.; Izmaylov, A. F.; Sonnenberg, J. L.; Williams-Young, D.; Ding, F.; Lipparini, F.; Egidi, F.; Goings, J.; Peng, B.; Petrone, A.; Henderson, T.; Ranasinghe, D.; Zakrzewski, V. G.; Gao, J.; Rega, N.; Zheng, G.; Liang, W.; Hada, M.; Ehara, M.; Toyota, K.; Fukuda, R.; Hasegawa, J.; Ishida, M.; Nakajima, T.; Honda, Y.; Kitao, O.; Nakai, H.; Vreven, T.; Throssell, K.; Jr., J. A. M.; Peralta, J. E.; Ogliaro, F.; Bearpark, M.; Heyd, J. J.; Brothers, E.; Kudin, K. N.; Staroverov, V. N.; Keith, T.; Kobayashi, R.; Normand, J.; Raghavachari, K.; Rendell, A.; Burant, J. C.; Iyengar, S. S.; Tomasi, J.; Cossi, M.; Millam, J. M.; Klene, M.; Adamo, C.; Cammi, R.; Ochterski, J. W.; Martin, R. L.; Morokuma, K.; Farkas, O.; Foresman, J. B.; Fox, D. J., Gaussian 09, Revision A.02. Gaussian, Inc.: Wallingford CT, 2016.
|
25 |
Mesleh, M. F.; Hunter, J. M.; Shvartsburg, A. A.; Schatz, G. C.; Jarrold, M. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 16082, DOI: 10.1021/jp961623v.
DOI
|