1 |
Donohue, D. L. J. Alloy Compd. 1998, 271-273, 11.
DOI
|
2 |
Donohue, D. L.; Ciurapinski, A.; Cliff III, J.; Rudenauer, F.; Kuno, T.; Poths, J. Appl. Surf. Sci. 2008, 255, 2561.
DOI
|
3 |
Magara, M.; Hanzawa, Y.; Esaka, F.; Miyamoto, Y.; Yasuda, K.; Watanabe, K.; Usuda, S.; Nishimura, H.; Adachi, T. Appl. Radiat. Isotopes 2000, 53, 87.
DOI
|
4 |
Jakubowski, N.; Prohaska, T.; Rottmann, L.; Vanhaecke F. J. Anal. At. Spectrom. 2011, 26, 693.
DOI
|
5 |
Esaka, F.; Magara, M.; Lee, C. G.; Sakurai, S.; Usuda, S.; Shinohara, N. Talanta, 2009, 78, 290.
DOI
|
6 |
Esaka, F.; Magara, M.; Suzuki, D.; Miyamoto, Y.; Lee, C.; Kimura, T. Mass Spectrom. Letters, 2011, 2, 80-83.
DOI
|
7 |
Ranebo, Y.; Hedberg, P.M.L.; Whitehouse, M.J.; Ingeneri, K.; Littmann, S. J. Anal. At.. Spectrom. 2009, 24, 277.
DOI
|
8 |
Heumann, K. G.; Eisenhut, S.; Gallus, S.; Hebeda, E. H.; Nusko, R.; Vengosh, A.; Walczyk, T. Analyst 1995, 120, 1291.
DOI
|
9 |
Stetzer, O.; Betti, M.; Geel, J.; Erdmann, N.; Kratz, J. -V.; Schenkel, R.; Trautmann, N. Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A 2004, 525, 582.
DOI
|
10 |
Lee, C.-G..; Iguchi, K.; Esaka, F.; Magara, M.; Sakurai, S.; Watanabe, K.; Usuda, S. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 294-296.
DOI
|
11 |
Kraiem, M.; Mayer, K.; Gouder, T.; Seibert, A.; Wiss, T.; Thiele, H.; Hiernaut, J. Int. J. Mass Spectrom. 2010, 289, 108.
DOI
|
12 |
Gaines, G.; Sims, C.; Jaffe, R.; J. Electrochem. Soc. 1959, 106, 881.
DOI
|
13 |
Jakopic, R.; Richter, S.; Kuhn, H.; Benedik, L.; Pihlar, B.; Aregbe, Y. Int. J. Mass Spectrom. 2009, 279, 87.
DOI
|
14 |
Park, J.-H.; Choi, I.; Song, K. Mass Spectrom. Lett. 2010, 1, 17.
DOI
|
15 |
Suzuki, D.; Saito-Kokubu, Y.; Sakurai, S.; Lee, C.-G.; Magara, M.; Iguchi, K.; Kimura, T. Int. J. Mass Spectrom. 2010, 294, 23.
DOI
|
16 |
Park. J.-H.; Jeong, K. Mass Spectrom. Lett. 2016, 7, 64.
DOI
|
17 |
Park, J.-H..; Choi, I.; Park, S.; Lee, M.; Song, K. Bull. Korean Chem. Soc. 2012, 32, 4327.
|
18 |
Park, J.-H. .; Jeong, K.; Song, K. Asian J. Chem. 2013, 25, 7061.
|
19 |
Park. J.-H.; Choi, E.-J. Talanta 2016, 160, 600.
DOI
|
20 |
Pallmer Jr., P.; Gordon, R.; Dresser, M. J. Appl. Phys. 1980, 51, 3776.
DOI
|