1 |
P. Duwez and S. C. H. Lin, J. Appl. Phys. 38, 4096 (1967).
DOI
|
2 |
J. Durand, IEEE Trans. Magn. 12, 945 (1976).
DOI
|
3 |
C. Suryanarayana and A. Inoue, Int. Mater. Rev. 58, 131 (2013).
DOI
|
4 |
M. Mitera, T. Masumoto, and N. S. Kazama, J. Appl. Phys. 50, 7609 (1979).
DOI
|
5 |
A. Inoue, B. L. Shen, and C. T. Chang, Acta Mater. 52, 4093 (2004).
DOI
|
6 |
B. L. Shen, A. Inoue, and C. T. Chang, Appl. Phys. Lett. 85, 4911 (2004).
DOI
|
7 |
S. J. Pang, T. Zhang, K. Asami, and A. Inoue, Acta Mater. 50, 489 (2002).
DOI
|
8 |
W. H. Wang, Prog. Mater Sci. 52, 540 (2007).
DOI
|
9 |
Z. B. Zhao, H. Li, J. Gao, Y. Wu, and Z. P. Lu, Intermetallics 19, 1502 (2011).
DOI
|
10 |
M. Mitera, M. Naka, T. Masumoto, N. Kazama, and K. Watanabe, Phys. Stat. Sol. (a) 49, 163 (1978).
DOI
|
11 |
A. Makino, T. Kubota, and C. T. Chang, Mater. Trans. JIM 48, 3024 (2007).
DOI
|
12 |
J. H. Zhang, C. T. Chang, A. D. Wang, and B. L. Shen, J. Non-Cryst. Solids 358, 1443 (2012).
DOI
|
13 |
Z. Q. Liu and Z. F. Zhang, J. Appl. Phys. 114, 243519 (2013).
DOI
|
14 |
B. Han, S. Kim, and H. Choi-Yim, J. Nanosci. Nanotechno. 16, 1 (2016).
DOI
|
15 |
S. Kim, B. K. Han, D. T. Quach, D-H. Kim, Y. K. Kim, and H. Choi-Yim, Curr. Appl. Phys. 16, 515 (2016).
DOI
|
16 |
M. P. Klug and L. F. Alexanader, X-ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, John Wiley & Sons, New York (1974) pp. 634.
|
17 |
Y. Takahara and N. Narita, Mater. Trans. JIM 41, 1077 (2000).
DOI
|
18 |
R. Onodera, S. Kimura, K. Watanabe, Y. Yokoyama, A. Makino, and K. Koyama, J. Alloy. Compd. 637, 213 (2015).
DOI
|
19 |
A. Inoue, T. Zhang, and T. Masumoto, J. Non.-Cryst. Solids 156-158, 437 (1993).
DOI
|
20 |
T. D. Shen and R. B. Schwarz, Appl. Phys. Lett. 75, 49 (1999).
DOI
|
21 |
B. Yao, Y. Zhang, L. Si, H. Tan, and Y. Li, J. Alloy. Comp. 370, 1 (2004).
DOI
|