1 |
T. Shinjo, T. Okuno, R. Hassdorf, K. Shigeto, and T. Ono, Science 289, 930 (2000).
DOI
ScienceOn
|
2 |
K. Yu. Guslienko, V. Novosad, Y. Otani, H. Shima, and K. Fukamichi, Phys. Rev. B 65, 024414 (2001).
DOI
ScienceOn
|
3 |
K. Yu. Guslienko, B. A. Ivanov, V. Novosad, Y. Otani, H. Shima, and K. Fukamichi, J. Appl. Phys. 91, 8037 (2002).
DOI
ScienceOn
|
4 |
J.-S. Kim, M. Klaui, M. V. Fistul, J. Yoon, C.-Y. You, R. Mattheis, C. Ulysse, and G. Faini, Phys. Rev. B 88, 064402 (2013).
DOI
|
5 |
J.-S. Kim, O. Boulle, S. Verstoep, L. Heyne, J. Rhensius, M. Klaui, L. J. Heyderman, F. Kronast, R. Mattheis, C. Ulysse, and G. Faini, Phys. Rev. B 82, 104427 (2010).
DOI
ScienceOn
|
6 |
S. Kasai, Y. Nakatani, K. Kobayashi, H. Kohno, and T. Ono, Phys. Rev. Lett. 97, 107204 (2006).
DOI
ScienceOn
|
7 |
Jun-Yeon Kim and Sug-Bong Choe, J. Magnetics 12, 113 (2007).
DOI
ScienceOn
|
8 |
Ki-Suk Lee, Dong-Soo Han, and Sang-Koog Kim, Phys. Rev. Lett. 102, 127202 (2009).
DOI
|
9 |
S. Ikeda, J. Hayakawa, Y. M. Lee, F. Matsukura, Y. Ohno, T. Hanyy, and H. Ohno, IEEE Trans. Elec. Dev. 54, 991 (2010).
|
10 |
M. J. Donahue and D. G. Porter: OOMMF User's Guide, Ver. 1.0, Interagency Report NISTIR 6376, NIST, USA (1999).
|
11 |
C.-Y. You, J. Magnetics 17, 73 (2012).
DOI
ScienceOn
|
12 |
E. H. M. van der Heijden, K. J. Lee, Y. H. Choi, T. W. Kim, H. J. M. Swagten, C.-Y. You, and M. H. Jung, Appl. Phys. Lett. 102, 102410 (2013).
DOI
ScienceOn
|
13 |
Jungbum Yoon, Sol Jung, Youngha Choi, Jaehun Cho, Chun-Yeol You, Myung-Hwa Jung, and H. I. Yim, J. Appl. Phys. 133, 17A342 (2013).
|
14 |
S. Ikeda, M. Miura, H. Yamanoto, K. Mizunuma, H. D. Gan, M. Endo, S. Kanai, J. Hayakawa, F. Matsukura, and H. Ohno, Nat. Mat. 9, 721 (2010).
DOI
ScienceOn
|
15 |
Sang-Koog Kim, Ki-Suk Lee, and Dong-Soo Han, Appl. Phys. Lett. 95, 082507 (2009).
DOI
ScienceOn
|