1 |
H. Karunadasa, Q. Huang, B. G. Ueland, P. Schiffer, and R. J. Cava, Proceedings of the National Academy of Sciences of the USA 100, 8097 (2003).
DOI
ScienceOn
|
2 |
G. Burns, J. Chem. Phys. 31, 1253 (1959).
DOI
|
3 |
S. H. Choh, H. T. Kim, H. K. Choh, C. S. Han, D. Choi, and J. N. Kim, Bull. Mag. Res. 11, 371 (1989).
|
4 |
W. J. Nicholson and G. Burns, Phys. Rev. 129, 2490 (1963).
DOI
|
5 |
Z. Xu and Y. Xu, Mater. Lett. 61, 3243 (2007).
DOI
ScienceOn
|
6 |
O. F. Schirmer, O. Thiemann, and M. Wohlecke, J. Phys. Chem. Solids 52, 185 (1991).
DOI
ScienceOn
|
7 |
T. Fujiwara, M. Takahashi, M. Ohama, A. Ikushima, Y. Furukawa, and K. Kitamura, Electron. Lett. 35, 499 (1999).
DOI
ScienceOn
|
8 |
V. Gopalan, T. Mitchell, Y. Furukawa, and K. Kitamura, Appl. Phys. Lett. 72, 1981 (1998).
DOI
ScienceOn
|
9 |
X. Chen, D. Zhu, B. Li, T. Ling, and Z. Wu, Opt. Lett. 26, 998 (2001).
DOI
|
10 |
T. H. Yeom, S. H. Choh, Y. M. Chang, and C. Rudowicz, Phys. Stat. Sol. (b) 185, 409 (1994).
DOI
ScienceOn
|
11 |
T. H. Yeom, S. H. Lee, S. H. Choh, and D. Choi, J. Korean Phys. Soc. 32, S647 (1998).
|
12 |
V. Grachev and G. Malovichko, Phys. Rev. B 62, 7779 (2000).
DOI
ScienceOn
|
13 |
S. H. Lee, T. H. Yeom, and S. H. Kim, J. Magnetics 17, 251 (2012).
DOI
ScienceOn
|
14 |
H. W. Shin, S. H. Choh, T. H. Yeom, and K. S. Hong, J. Korean Phys. Soc. 32, S662 (1998).
|
15 |
M. P. Petrov, Soviet Phys.-Solid State 10, 2574 (1969).
|
16 |
D. G. Rexford and Y. M. Kim, J. Chem. Phys. 57, 3094 (1972).
DOI
|
17 |
M. D. Glinchuk, G. I. Malovichko, I. P. Bykov, and V. G. Grachev, Ferroelectrics 92, 83 (1989).
DOI
ScienceOn
|
18 |
T. H. Yeom, S. H. Choh, Y. M. Chang, and C. Rudowicz, Phys. Stat. Sol. (b) 185, 417 (1994).
DOI
ScienceOn
|
19 |
S. C. Abrahams and P. Marsh, Acta Cryst. B 42, 61 (1986).
DOI
|
20 |
S. C. Abrahams, J. M. Reddy, and J. L. Bernstein, J. Phys. Chem. Solids 27, 997 (1966).
DOI
ScienceOn
|
21 |
G. Malovichko, V. Grachev, V. Kokanyan, and O. Shirmer, Phys. Rev. B 59, 9113 (1999).
DOI
ScienceOn
|
22 |
D. K. McMillen, T. D. Hudson, J. Wagner, and J. Singleton, Opt. Express 2, 491 (1998).
DOI
|
23 |
A. Abragam and B. Bleaney, Electron Paramagnetic Resonance of Transition Ions, Oxford University Press, Oxford (1970).
|
24 |
C. Rudowicz, Mag. Res. Rev. 13, 1 (1987).
|
25 |
K. Buse, F. Jermann, and E. Kratzig, Opt. Matter. 4, 237 (1995).
DOI
ScienceOn
|
26 |
J. Imbrock, S,. Wevering, K. Buse, and E. Kratzig, J. Opt. Soc. Am. B 16, 1392 (1999).
DOI
|
27 |
X. Yue, A. Adibi, T. Hudson, K. Buse, and D. Psaltis, J. Appl. Phys. 87, 4051 (2000).
DOI
ScienceOn
|
28 |
T. Pliska, D. Fluck, and P. Gunter, in Nonlinear Optical Effects and Materials, edited by P. Gunter, Springer, Berlin (2000) pp. 479-482.
|
29 |
T. Hatanaka, K. Nakamura, T. Taniuchi, H. Ito, Y. Furukawa, and K. Kitamura, Opt. Lett. 25, 651 (2000).
DOI
|
30 |
R. L. Byer and J. F. Young, J. Appl. Phys. 41, 2320 (1970).
DOI
|
31 |
S. Kostritskii and O. Sevostyanov, Appl. Phys. B 65, 527 (1997).
DOI
ScienceOn
|
32 |
M. Ohira, Z. Chen, and T. Kasanmatsu, Jpn. J. Appl. Phys. 30, 2326 (1991).
DOI
|
33 |
T. Tsuboi, M. Grinberg, and S. M. Kaczmarek, J. Alloys Compd. 341, 333 (2002).
DOI
ScienceOn
|
34 |
Y. Yang, D. Psaltis, M. Luennemann, D. Berben, U. Hartwig, and K. Buse, J. Opt. Soc. Am. B 20, 1491 (2003).
DOI
ScienceOn
|
35 |
K. Buse, F. Jermann, and E. Kratzig, Appl. Phys. A 58, 191 (1994).
|
36 |
E. Cantelar, J. A. Sanz-Garcia, G. Lifante, F. Cusso, and P. L. Pernas, Appl. Phys. Lett. 86, 161119 (2005).
DOI
ScienceOn
|
37 |
G. Q. Zhang, G. Y. Zhang, S. M. Liu, J. J. Xu, and Q. Sun, J. Appl. Phys. 83, 4392 (1998).
DOI
ScienceOn
|
38 |
Y. Furukawa, K. Kitamura, K. Niwa, and H. Hatano, Opt. Lett. 23, 1892 (1998).
DOI
|
39 |
Y. Furukawa, K. Kitamura, Y. Ji, G. Montemezzani, M. Zgonik, C. Medrano, and P. Gunter, Opt. Lett. 22, 501 (1997).
DOI
|
40 |
F. Abdi, M. Aillerie, P. Bourson, M. D. Fontana, and K. Polgar, J. Appl. Phys. 84, 2251 (1998).
DOI
ScienceOn
|
41 |
T. Zhang, B. Wang, S. Fang, and D. Ma, J. Phys. D: Appl. Phys. 38, 2013 (2005).
DOI
ScienceOn
|
42 |
I. Tomeno and S. Matsumura, J. Phys. Soc. Japan 56, 163 (1987).
DOI
|