1 |
M. Bauer, P. Becker and Q. Zheng, Proc. MAGLEV (2006).
|
2 |
G. Nissen, Proc. MAGLEV (2008).
|
3 |
M. Chen, D. Xu, D. Zhou, and X. Wu, Proc. APEC 1165 (2004).
|
4 |
A. P. Hu, PhD Thesis, University of Auckland, New Zealand (2001).
|
5 |
J. Meins, G. Buhler, R. Czainski, and F. Turki, Proc. MAGLEV (2006).
|
6 |
K.Woo, H. S. Park, Y. H. Cho, and K. H. Kim, IEEE Trans. Magn. 41, 1596 (2005).
|
7 |
A. J. Moradewicz and M. P. Kazmierkowski, IEEE Trans. Ind. Electron. 57, 3181 (2010).
|
8 |
C. Kim, D. Seo, J. You, J. Park, and B. H. Cho, IEEE Trans. Ind. Electron. 48, 1238 (2001).
DOI
ScienceOn
|
9 |
J. Sallan, J. L. Villa, A. Llombart, and J. F. Sanz, IEEE Trans. Ind. Electron. 56, 2140 (2009).
DOI
ScienceOn
|
10 |
C. Wang, O. H. Stielau, and G. A. Covic, IEEE Trans. Ind. Electron. 52, 1308 (2005).
DOI
ScienceOn
|
11 |
X. Liu, W. M. Ng, C. K. Lee, and S. Y. Hui, Proc. APEC 645 (2008).
|