1 |
A. Zhukovsky, Y. Iwasa, E. S. Bovrov, J. Ludlam, J. E. C Williams, R. Hirose, and Z. Ping Zhao, IEEE Trans. Magn. 28, 644 (1992).
DOI
ScienceOn
|
2 |
D. W. Hazelton, Y. Xing, H. W. Weijers, and S. W. Van Sciver, IEEE Trans. Appl. Supercond. 9, 956 (1999).
DOI
ScienceOn
|
3 |
M. Bechenback, F. Hornung, M. Klaser, P. Leys, B. Lott, and Th. Schneider, IEEE Trans. Appl. Supercond. 15, 1484 (2005).
DOI
ScienceOn
|
4 |
K. Tasaki, M. Ono, T. Kuriyama, M. Kyoto, S. Hanai et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 15, 1512 (2005).
DOI
ScienceOn
|
5 |
T. Takeuchi, H. Kitaguchi, N. Banno, Y. Iijima, A. Kikuchi, K. Tagawa, Y. Suzuki, M. Yoshikawa, and S. Hayashi, IEEE Trans. Appl. Supercond. 17, 2684 (2007).
DOI
ScienceOn
|
6 |
K. S. Chang, D. K. Park, S. E. Yang, H. C. Jo, H. J. Kim, Y. S. Yoon, H. S. Kim, and T. K. Ko, IEEE Trans. Appl. Supercond. 20, 1577 (2010).
DOI
ScienceOn
|
7 |
S. Choi, J.-H. Bae, M.-H. Sohn, W.-S. Kim, C. Park, J.-K. Lee, S. Lee, and K. Choi, IEEE Trans. Appl. Supercond. 19, 1249 (2009).
DOI
ScienceOn
|