1 |
T. Maeda, T. Kai, A. Kikisu, T. Nagase, and J. Akiyama, Appl. Phys. Lett. 80, 2147 (2002)
DOI
ScienceOn
|
2 |
T. Shima, T. Moriguchi, S. Mitani, and K. Takanashi, Appl. Phys. Lett. 80, 288 (2002)
DOI
ScienceOn
|
3 |
S. Sun, C. B. Murray, D. Weller, l. Folks, and A. Moser, Science 287, 1989 (2000)
DOI
ScienceOn
|
4 |
T. Klemmer et al., Scr. Metall. Mater. 33, 1793 (1995)
DOI
ScienceOn
|
5 |
Y. K. Takahashi, M. Ohnuma, and K. Hono, Jpn. J. Appl. Phys. 40, L1367 (2001)
DOI
|
6 |
Y.-N. Hsu et al., J. Appl. Phys. 89, 7068 (2001)
DOI
ScienceOn
|
7 |
C. P. Luo and D. J. Sellmyer, IEEE Trans. Magn. 31, 2764 (1995)
DOI
ScienceOn
|
8 |
T. Shima, K. Takanashi, Y. K. Takahashi, and K. Hono, Appl. Phys. Lett. 85, 2571 (2004)
DOI
ScienceOn
|
9 |
M. Weisheit, L. Shultz, and S. Fahler, J. Appl. Phys. 95, 7489 (2004)
DOI
ScienceOn
|
10 |
T. Seki et al., IEEE Trans. Magn. 40, 2522 (2004)
DOI
ScienceOn
|
11 |
T. Shima, T. Seki, K. Takanashi, Y. K. Takahashi, and K. Hono, J. Magn. Magn. Mater. 272-276, e557 (2004)
DOI
ScienceOn
|