1 |
H. Chiriac, T. A. Ovari, and C. S. Marinescu, J. Appl.Phys. 83, 6584 (1998).
DOI
ScienceOn
|
2 |
L. V. Panina and K. Mohri, Appl. Phys. Lett. 65, 1189 (1994).
DOI
ScienceOn
|
3 |
P. Ripka and L. Kraus, MA: Artech House, 350 (2001)
|
4 |
W. Y. Jeung, H. K. Kim, and J. O. Lee, J. of Kor. Mag. Soc. 15(4), 241 (2005)
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|
5 |
H. K Kim, D. W. Chun, J. H. Han, K. B. Kim, and W. Y Jeung. Phys. Stat. Sol. (a) 204, 4104 (2007).
DOI
ScienceOn
|
6 |
Agilent Application Note “Ultralow Impedance Measurement using 2-port Measurement” (2007).
|
7 |
L. Jin, S. S. Yoon et al., J. Magnetics 12, 31 (2007)
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|
8 |
K. Mohri, T. Uchiyamaa, L. P. Shena, C. M. Caia, and L. V. Panina, J. Magn. Magn. Matt. 249, 351 (2002).
DOI
ScienceOn
|
9 |
Chen, C. et al., J. Phys. D 9, 1951 (1997).
|
10 |
D. de Cos et al., 41, 3697 (2005).
|
11 |
M. Knobel, M. L. Sanchez, C. Gomez-Polo, P. Marin, M. Vazquez, and A. Hernando, J. Appl. Phys. 79, 1646 (1996).
DOI
|
12 |
W. Y. Jeung, H. K. Kim, and C. B. Park, J. of Kor. Mag. Soc. 16(5), 249 (2006).
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|
13 |
Kollu, Pratap, Doung-Young Kim, and Cheol-Gi Kim, J. Magnetics 12, 35 (2007).
과학기술학회마을
DOI
ScienceOn
|