1 |
J. M. Steigerwald, S. P. Murarka, R. J. Gutmann, D. J. Duquette, Mater. Chem. Phys., 1995, 41(3), 217-228.
DOI
|
2 |
S. Y. Kim, Y. J. Seo, Microelectron Eng., 2002, 60, 357-364.
DOI
|
3 |
S. Y. Jeong, S. Y. Kim, Y. J. Seo, Microelectron Eng., 2003, 66(1-4), 480-487.
DOI
|
4 |
Y. J. Seo, G. U. Kim, W. S. Lee, Microelectron Eng., 2004, 71(2), 209-214.
DOI
|
5 |
Y. J. Seo, W. S. Lee, Microelectron Eng., 2005, 77(2), 132-138.
DOI
|
6 |
S. Seal, S. C. Kuiry, B. Heinmen, Thin Solid Films, 2003, 423(2), 243-251.
DOI
|
7 |
S. Aksu, F. Doyle, J. Electrochem. Soc., 2002, 149(6), G352-G361.
|
8 |
P. C. Goonetilleke, D. Roy, Mater. Chem. Phys., 2005, 94(2-3), 388-400.
DOI
|
9 |
T. D. Hewitt, R. Gao, D. Roy, Surf. Sci., 1993, 291(1-2), 233-241.
DOI
|
10 |
K. A. Assiongbon, S. B. Emery, C. M. Pettit, S. V. Babu, D. Roy, Mater. Chem. Phys., 2004, 86(2-3), 347-357.
DOI
|
11 |
J. E. Garland, C. M. Pettit, M. J. Walters, D. Roy, Surf. Interface Anal., 2001, 31(6), 492-503.
DOI
|
12 |
D. Ernur, S. Kondo, D. Shamiryan, K. Maex, Microelectron. Eng., 2002, 64(1-4), 117-124.
DOI
|
13 |
K. A. Assiongbon, S. B. Emery, V. R. K. Gorantla, S. V. Babu, D. Roy, Corrosion Science, 2006, 48(2), 372-388.
DOI
|
14 |
J. Lu, J. E. Garland, C. M. Pettit, S. V. Babu, D. Roy, J. Electrochem. Soc., 2004, 151(10), G717-G722.
|
15 |
J. E. Garland, C. M. Pettit, M. J. Walters, D. Roy, Surf. Interface Anal., 2001, 31(6), 492-503.
DOI
|
16 |
S. J. Han, W. S. Lee, Y. J. Seo, J. Korean Phys. Soc., 2008, 53(9), 2401-2406.
DOI
|
17 |
Y. K. Lee, W. S. Lee, and Y. J. Seo, J. Korean Phys. Soc., 2008, 53(9), 2485-2490.
DOI
|
18 |
Y. J. Seo, Microelectron Eng., 2011, 88(1), 46-52.
DOI
|
19 |
I. Nicic, J. Liang, V. Cammarata, M. Alanyalioglu, U. Demir, C. Shannon, J. Phys. Chem. B, 2002, 106(47), 12247-12252.
DOI
|
20 |
V. Stamenkovic, N. M. Markovic, Langmuir, 2001, 17(8), 2388-2394.
DOI
|