1 |
M. D. Salgado, S. C. S. Rodrigues, D. M. Santos, A. S. Brandim, and V. F. C. Lins, Eng. Fail. Anal., 79, 89 (2017).
DOI
|
2 |
M. -J. Kim, S. -I. Jang, S. -H. Woo, J. -G. Kim, and Y. -H. Kim, Corrosion, 71, 285 (2015).
DOI
|
3 |
P. H. Han, Z. H. Xu, C. P. Wang, M. C. Li, and H. Y. Bi, Int. J. Electrochem. Sci., 9, 3784 (2014).
|
4 |
H. P. Kim and D. J. Kim, Corros. Sci. Tech., 17, 183 (2018).
|
5 |
W. -J. Beom, K. -S. Yun, C. -J Park, H. -J. Ryu, and Y. -H Kim, Corros. Sci., 52, 734 (2010).
DOI
|
6 |
M. -J Kim, S. -H Woo, and J. -G Kim, Mater. Trans., 56, 1599 (2015).
DOI
|
7 |
M. R. Bateni, P. Wei, O. Kesler, and A. Petric, Mater. Manuf. Process., 28, 1314 (2013).
DOI
|
8 |
Y. X. Li, Q. Jia, Z. T. Zhu, W. Gao, and H. Chen, Surf. Rev. Lett., 24, 1750046 (2017).
DOI
|
9 |
H. T. Zhang and J. K. Liu, Mat. Sci. Eng. A, 528, 19 (2011).
|
10 |
Y. -I. Choi, D. Paik, and C. -J. Park, ECS Electrochem. Lett., 1, C5 (2012).
DOI
|