1 |
D. J. Blackwood, R. Greef and L. M. Peter, Electrochim. Acta, 34, 875 (1989).
DOI
ScienceOn
|
2 |
D. J. Blackwood, L. M. Peter and D. E. Williams, Electrochim. Acta, 33, 1143 (1988).
DOI
ScienceOn
|
3 |
D. J. Blackwood, L. M. Peter, H. E. Bishop, P. R. Chalker and D. E. Williams, Electrocim. Acta, 34, 1401 (1989).
DOI
ScienceOn
|
4 |
L. M. Young, G. A. Young, J. R. Scully and R. P. Gangloff, Metall. Mater. Trans. A, 26, 1257 (1995).
DOI
|
5 |
A. M. Alvarez, I. M. Robertson and H. K. Birnbaum, Acta Mater., 52, 4161 (2004).
DOI
ScienceOn
|
6 |
D. G. Kolman and J. R. Scully, Corros. Sci., 42, 1863 (2000).
DOI
ScienceOn
|
7 |
N. Rajendran and T. Nishimura, Mater. Corros., 58, 334 (2007).
DOI
ScienceOn
|
8 |
D. J. Blackwood, Electrochim. Acta, 46, 563 (2000).
DOI
ScienceOn
|
9 |
D. W. Shoesmith and J. J. Noel, Shreir's Corrosion, 4th ed., p. 2042, (Ed.s.) H. Stott, S. Lyon, A. Richardson, R. Lindsay, M. Graham, R. A. Cottis and D. Scantlebury, Elsevier Science, London (2009).
|
10 |
Y. Li, Private communication, National University of Singapore, Singapore (2014).
|
11 |
J. S. Lee, M. L. Reed and R. G. Kelly, J. Electrochem. Soc., 151, B423 (2004).
DOI
ScienceOn
|
12 |
M. I. Abdulsalam, Corros. Sci., 47, 1336 (2005).
DOI
ScienceOn
|
13 |
B. P. Cai, Y. H. Liu, X. J. Tian, F. Wang, H. Li and R. J. Ji, Corros. Sci., 52, 3235 (2010).
DOI
ScienceOn
|
14 |
B. Balakrisnan, M. Eng. Thesis, Natioanl University of Singapore (1998).
|