1 |
C. Lombardi, S. Manzini, A. Saporito, and M. Vanzi, IEEE Trans. Computer Aided Design CD 7, 1164 (1988)
DOI
|
2 |
S. Takagi, A. Toriumi, M. Iwase, and H. Tango, IEEE Trans. Electron Devices ED 41, 2357 (1994)
DOI
ScienceOn
|
3 |
K. Masaki, C. Hamaguchi, K. Taniguchi, and M. Iwase, Jpn. J. Appl. Phys. 28, 1856 (1989)
DOI
|
4 |
D. K. Ferry, Semiconductors (Macmillan, New York, 1991)
|
5 |
M. N. Darwish, J.L. Lentz, M. R. Pinto, P. M. Zeitzoff, T. J. Krutsick, and H. H. Vuong, IEEE Trans. Electron Devices ED 44, 1529 (1997)
DOI
ScienceOn
|
6 |
R. H. Yom et al., IEEE Transaction on Electron Device, Vol. 39, 1992 p. 1704 (1992)
DOI
|
7 |
P. J. Price, Ann. Phys. (NY) 133, 217 (1981)
DOI
ScienceOn
|
8 |
G. Abstreiter, H. Brugger, T. Wolf, H. Jorke, and H. J. Herzog, Phys, Rev. Lett. 54, 2441 (1985)
DOI
ScienceOn
|
9 |
T. Vogelsang and K. R. Hofmann, Appl. Phys. Lett. 63, 186 (1993)
DOI
ScienceOn
|
10 |
M. Ishizuka, T Iizuka, S. Ohi, M. Fukuma, and H. Mikoshiba, IEDM90 Technical Digest, p. 763 (1990)
|
11 |
R. People, IEEE J. Quantum Electron QE 22, 1696 (1986)
DOI
|
12 |
M. V. Fischetti and S. E. Laux, Phys. Rev. B 48, 2244 (1993)
DOI
ScienceOn
|
13 |
F. Gamiz, P. Cartujo Cassinello, J. B. Roladan, and F. Jimenez Molinos, J. Appl. Phys. 92, 288 (2002)
DOI
ScienceOn
|
14 |
H. Ezawa, S. Kawaji, and K. Nakamura, Jpn. J. Appl. Phys. 13, 126 (1974)
DOI
|
15 |
C. Jungemarn, A. Emunds, and W. L. Engl, Solid State Electron. 32, 1529 (1993)
DOI
ScienceOn
|
16 |
F. Stern, Phys. Rev. 73, 8364 (1972)
|
17 |
K. Masaki, C. Hamaguchi, K. Taniguchi, and M. Iwase, Jpn. J. Appl. Phys. 28, 1856 (1989)
DOI
|
18 |
S. Takagi, A. Toriumi, M. Iwase, and H. Tango, IEEE Trans. Electron Devices ED 41, 2363 (1994)
DOI
ScienceOn
|
19 |
S. Takagi, J. L. Hoyt, J. J. Welser, and J. F. Gibbons, J. Appl. Phys. 80, 1567 (1996)
DOI
ScienceOn
|
20 |
G. S. Lee, T. H. Shim, and J. G. Park, Journal of Ceramic Processing Research. Vol. 5, No. 3, pp. 247 250 (2004)
|
21 |
J. G. Park, T. H. Shim, T. H Lee, Y. K. Park, H. K. Moon, S. L. Maeng, W. J. Cho, and S. D. Yoo, Proc. Int. Symp. IEEE Int. SOI Conference, p. 61 (2003)
|
22 |
J. J. Welser, J. L. Hoyt, and J. F. Gibbons, IEEE Electron Device Lett., Vol. 15, p. 100(1994)
DOI
ScienceOn
|