1 |
Anna B. Chang, Mark A. Rothman, Appl. Phys. Lett., Vol. 83, No. 3, pp. 413, 2003.
DOI
ScienceOn
|
2 |
R. H. Frend, R. W. Gymer, A. B. Holmes, J. H. Burroughes, R. N. Marks, C. Taliani, D. C. Bradley, D. A. Dos Santos, J. L. Bredas, M. Logdlundd, and W. R. Sanraneck, Nature, Vol. 397, pp. 121-128, 1999.
DOI
ScienceOn
|
3 |
C. Jiang, W. Yang, J. Peng, S. Xiao and Y. Caoet, Advanced Materials, Vol. 16. No. 6, pp. 537-541, 2004.
DOI
ScienceOn
|
4 |
W.D. Liu, J.W. Spencer, J..K. Wood, J.J. Chaaraoui and G.R. Jones IEE Proc-sci. meas. Technol. Vol. 3, pp. 195-200, 1996.
|
5 |
M. Murakami, M. Morita, K. Doi, and K. Miyamoto, Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 28, No. 7, p. 1189, 1989.
DOI
|