Study on the Blocking Voltage and Leakage Current Characteristic Degradation of the Thyristor due to the Surface Charge in Passivation Material
![]() |
Kim Hyoung-Woo
(한국전기연구원 전력반도체연구그룹)
Seo Kil-Soo (한국전기연구원 전력반도체연구그룹) Bahng Wook (한국전기연구원) Kim Ki-Hyun (한국전기연구원 전력반도체연구그룹) Kim Nam-Kyun (한국전기연구원 전력반도체연구그룹) |
1 | 社團法人 電氣協同硏究會 '電力系統用 power electronics 設備の 現場と設計.保守基準' 電氣協同硏究 第 57卷, 第 2號, 평성 13년 10월 |
2 | Silvaco TCAD Manuals, ATLAS & ATHENA, Silvaco International Co. USA |
3 | R. R. Verderber, et al., 'SiO2/Si3N4 passivation of high power rectifiers,' IEEE Trans. Electron Devices, Vol. ED-17, pp. 797-799, 1970 DOI ScienceOn |
4 | B. Jayant baliga, 'Power Semiconductor Devices', PWS Publishing Company, 1996 |
5 | Milan Cepek and Chandra P. Krishnayya, 'Thyristor Aging', Power System Technology, pp. 18-21, Aug. 1998 DOI |
6 | 서길수외, '대용량 사이리스터의 전압/열에 의한 가속열화 시스템', 대한전기학회 하계학술대회 논문집, 2004 |
7 | 김형우, 서길수 외, '대용량 사이리스터의 열화메카니즘', 대한전기학회 합동추계학술대회 논문집, pp. 82 - 85, 2003 |
8 | 김상철, 서길수 외, 'HVDC용 사이리스터 소자의 전기적 특성 simulation 연구', 대한전기학회 하계학술대회 논문집, pp. 1559-1561, 2003 |
9 | M. Bakowski and K, Ingemar lundstrom, 'Depletion layer characteristics at the surface of beveled high-voltage P-N junctions', IEEE Trans. ED. Vol. 20, No.6, 1973 DOI ScienceOn |
![]() |