1 |
S. Stehlik, M. Varga, M. Ledinsky, V. Jirasek, A. Artemenko, H. Kozak, L. Ondic, V. Skakalova, G. Argentero, T. Pennycook, J. C. Meyer, A. Feifar, A. Kromka and B. Rezek: J. Phys. Chem. C, 119 (2015) 27708.
DOI
|
2 |
S. Stehlik, M. Varga, M. Ledinsky, D. Miliaieva, H. Kozak, V. Skakalova, C. Mangler, T. J. Pennycook, J. C. Meyer, A. Kromka and B. Rezek: Sci. Rep., 6 (2016) 38419.
DOI
|
3 |
O. Shenderova, I. Petrov, J. Walsh, V. Grichko, V. Grishko, T. Tyler and G. Cunningham: Diam. Relat. Mater., 15 (2006) 1799.
DOI
|
4 |
V. Pichot, M. Comet, E. Fousson, C. Baras, A. Senger, F. Le Normand and D. Spitzer: Diam. Relat. Mater., 17 (2008) 13.
DOI
|
5 |
A. Wolcott, T. Schiros, M.E. Trusheim, E.H. Chen, D. Nordlund, R. E. Diaz, O. Gaathon, D. Englund and J. S. Owen: J. Phys. Chem. C, 118 (2014) 26695.
DOI
|
6 |
J. Havlik, V. Petrakova, I. Rehor, V. Petrak, M. Gulka, J. Stursa, J. Kucka, J. Ralis, T. Rendlerf, S. Y. Lee, R. Reuter, J. Wrachtrup, M. Ledvina, M. Nesladek and P. Cigler: Nanoscale, 5 (2013) 3208.
DOI
|
7 |
V. N. Mochalin and Y. Gogotsi: Diam. Relat. Mater., 58 (2015) 161.
DOI
|
8 |
Reishauer, Downloadcenter, http://rmnt.reishauer.com/en/welcome/downloadcenter.
|
9 |
Y. K. Bahk, J. Buha and J. Wang: Aerosol. Sci. Tech., 47 (2013) 776.
DOI
|
10 |
H. G. Schmid, M. Dvorak, G. Buerki, M. Leparoux, S. Siegmann and C. Schreuders: PARTEC Int. Congress for Particle Technology, 26 (2004) 16.
|
11 |
C. Xu, X. Cai, J. Zhang and L. Liu: Particuology, 19 (2015) 82.
DOI
|
12 |
S. Osswald, G. Yushin, V. Mochalin, S. O. Kucheyev and Y. Gogotsi: J. Am. Chem. Soc., 128 (2006) 11635.
DOI
|
13 |
A. Niederhofer, P. Nesladek, H. D. Mannling, K. Moto, S. Veprek and M. Jilek: Surf. Coat. Technol., 120-121 (1999) 173.
DOI
|
14 |
H. Kwon, S. Kim, B. Lee, W. Seo and M. Laparoux: Mater. Sci. Eng. A, 632 (2015) 72.
DOI
|
15 |
E. Duffy, D. P. Mitev, S. C. Thickett, A. T. Townsend, B. Paul and P. N. Nesterenkon: Appl. Surf. Sci., 357 (2015) 397.
DOI
|
16 |
X. Zhang, J. Yin, C. Kang, J. Li, Y. Zhu, W. Li, Q. Huang and Z. Zhu: Toxicol. Lett., 198 (2010) 237.
DOI
|
17 |
V. V. Danilenko: Phys. Solid State, 46 (2004) 595.
DOI
|
18 |
V. Pichot, B. Risse, F. Schnell, J. Mory and D. Spitzer: Sci. Rep., 3 (2013) 02159.
DOI
|
19 |
A.R. Kirmani, W. Peng, R. Mahfouz, A. Amassian, Y. Losovyj, H. Idriss and K. Katsiev: Carbon, 94 (2015) 79.
DOI
|
20 |
G. W. Yang, J. B. Wang and Q. X. Liu: J. Phys. Condens. Matter, 10 (1998) 7926.
|
21 |
J. P. Boudou, P. A. Curmi, F. Jelezko, J. Wrachtrup, P. Aubert, M. Sennour, G. Balasubramanian, R. Reuter, A. Thorel and E. Gaffet: Nanotechnology, 20 (2009) 235602.
DOI
|
22 |
T. L. Daulton, M. A. Kirk, R. S. Lewis and L. E. Rehn: Nucl. Instrum. Meth. B, 175 (2001) 12.
|
23 |
M. Frenklach, W. Howard, D. Huang, J. Yuan, K. E. Spear and R. Koba: Appl. Phys. Lett., 59 (1991) 546.
DOI
|
24 |
Y. Gogotsi, Klaus G. Nickel, D. Bahloul-Hourlier, T. Merle-Mejean, G. E. Khomenko and K. P. Skjerlie: J. Mater. Chem., 6 (1996) 595.
DOI
|
25 |
S. Welz, Y. Gogotsi and M. J. McNallan: J. Appl. Phys., 93 (2003) 4207.
DOI
|
26 |
F. Banhart and P. M. Ajayan: Nature, 382 (1996) 433.
DOI
|
27 |
E. M. Galimov, A. M. Kudin, V. N. Skorobogatskii, V. G. Plotnichenko, O. L. Bondarev, B. G. Zarubin, V. V. Strazdovskii, A. S. Aronin, A. V. Fisenko, I. V. Bykov and A. Yu. Barinov: Dokl. Phys., 49 (2004) 150.
DOI
|
28 |
V. N. Mochalin, I. Neitzel, B. J. M. Etzold, A. Peterson, G. Palmese and Y. Gogotsi: ACS Nano, 5 (2011) 7494.
DOI
|
29 |
H. Huang, E. Pierstorff, E. Osawa and D. Ho: Nano Lett., 11 (2007) 3305.
|
30 |
V. Grichko, T. Tyler, V. I. Grishko and O. Shenderova: Nanotechnology, 19 (2008) 225201.
DOI
|
31 |
T.Gaebel, C. Bradac, J. Chen, J. M. Say, L. Brown, P. Hemmer and J. R. Rabeau: Diam. Relat. Mater., 21 (2012) 28.
DOI
|
32 |
S. Osswald, M. Havel, V. Mochalin, G. Yushin and Y. Gogotsi: Diam. Relat. Mater., 17 (2008) 1122.
DOI
|
33 |
O. A. Williams, J. Hees, C. Dieker, W. Jager, L. Kirste and C. E. Nebel: ACS Nano, 8 (2010) 4824.
|