1 |
K. T. Kim and G. H. Ha: J. of Nanosci. and Nanotech., 11 (2011)
|
2 |
H. Bottner, J. Nurnus, J. A. Gavriko, G. Kühner, M. Jägle, C. Kunzel, D. Eberhard, G. Plescher, A. Schubert and K. H. Schlereth: J. Microelectromech. Syst., 13 (2004) 414.
DOI
ScienceOn
|
3 |
R. Venkatasubramanian, T. Colpitts, E. Watko, M. Lamvik and N. ElMasry: J. Cryst. Growth, 170 (1997) 817.
DOI
ScienceOn
|
4 |
K. T. Kim, D. W. Kim and G. H. Ha: Res. Chem. Intermed., 36 (2010) 835
DOI
|
5 |
C. Navone, M. Soulier, M. Plissonnier and A. L. Seiler: J. Elect. Mater., 39 (2010) 1755.
DOI
|
6 |
K. T. Kim, K. M. Jang and G. H. Ha: Rev. Adv. Mater. Sci., 28 (2011) 14.
|
7 |
R. Venkatasubramanian, E. Silvola, T. Colpitts and B. O'Quinn: Science, 413 (2001) 297.
|
8 |
M. Toprak, Y. Zhang and M. Muhammed: Mat. Lett., 57 (2003) 3976.
DOI
ScienceOn
|
9 |
K. T. Kim, K. M. Jan and G. H. Ha: J. Korean Powder Metall. Inst., 17 (2010) 136 (Korean).
DOI
ScienceOn
|
10 |
D. M. Rowe: CRC Handbook of Thermoelectrics, CRC Press, Inc., New York (1995).
|