1 |
N. Yasui, A. Imada and T. Den: Appl. Phys. Lett., 83
(2003) 3347.
DOI
ScienceOn
|
2 |
T. Thurn-Albrecht et al.: Science, 290 (2000) 2126.
DOI
ScienceOn
|
3 |
Y. Cui, Q. Wei, H. Park and C. M. Lieber: Science,
293 (2001) 1289.
DOI
ScienceOn
|
4 |
M. Bal, A. Ursache, M. T. Tuominen, J. T. Goldbach,
and T. P. Russell: Appl. Phys. Lett., 81 (2002) 3479.
DOI
ScienceOn
|
5 |
K. Fukutani, K. Tanji, T. Motoi and T. Den: Adv. Mater., 16 (2004) 1456.
DOI
ScienceOn
|
6 |
K. Fukutani, Y. Ishida, K. Tanji and T. Den: Thin Solid Films, 515 (2007) 4629.
DOI
ScienceOn
|
7 |
N. Yasui, R. Horie, Y. Ohashi, K. Tanji and T. Den:
Adv. Mater., 19 (2007) 2797.
DOI
ScienceOn
|
8 |
M. Atzmon, D. A. Kessler and D. J. Srolovitz: J. Appl. Phys., 72 (1992) 442.
DOI
|
9 |
C. D. Adams and D. J. Srolovitz: J. Appl. Phys., 74
(1993) 1707.
DOI
ScienceOn
|
10 |
J. Otomo, R. Kurokawa, H. Takahashi and H. Nagamoto:
Vacuum, 81 (2007) 1003.
DOI
ScienceOn
|
11 |
K. Fukutani, K. Tanji, T. Saito and T. Den: J. Appl. Phys., 98 (2005) 033507.
DOI
ScienceOn
|
12 |
N. Moelans, B. Blanpain and P. Wollants: Calphad, 32
(2008) 268.
DOI
ScienceOn
|
13 |
J. W. Cahn and J. E. Hilliard: J. Chem. Phys., 31
(1959) 688.
DOI
|