1 |
N. Bonnet, C. Colliex, C. Mory, M. Tence, Scan Microscopy 2 (1988) 351
|
2 |
N. Bonnet, J. M. Zahm: Cytometry 31 (1998) 217
DOI
ScienceOn
|
3 |
Martinson, Indrek, L. J. Curtis: Nuclear Instruments andMethods in Physics Research B 235 (2005) 17
DOI
ScienceOn
|
4 |
R. F. Egerton: Electron Energy Loss Spectroscopy in the Electron Microscope, 2nd ed. (Plenum Press New York, 1996)
|
5 |
G. Ruthemann: Naturwissenschaften 29 (1941) 648
DOI
|
6 |
J. Hillier, R. F. Baker: J Appl Phys 15 (1944) 663
DOI
|
7 |
N. W. Parker, M. Utlaut, M. S. Isaacson: Optik 51 (1978)333
|
8 |
N. W. Parker, M. Utlaut, M. S. Isaacson: Optik 51 (1978) 333
|
9 |
J. G. Chen: Surf. Sci. Reports 30 (1997)
|
10 |
A. P. Hitchcock, A. T. Wen: E. Ruhl, Chem Phys 147 (1990) 51
DOI
ScienceOn
|
11 |
C. Quintana, S. Marco, N. Bonnet, C. Risco, M. L. Gutierrez, A. Guerrero, J. L. Carrascosa, Micron 29 (1998) 297
DOI
ScienceOn
|
12 |
C. Quintana, N. Bonnet, S. Marco, 14th International Congress on Electron Microscopy, Cancun (Mexique), 1998, p. 711
|
13 |
K. H. Kortje: J Microsc-Oxford 174 (1994) 149
DOI
ScienceOn
|
14 |
J. Mayer, U. Eigenthaler, J. M. Plitzko, F. Dettenwanger: Micron 28 (1997) 361
DOI
ScienceOn
|
15 |
J. M. Martin, B. Vacher, L. Ponsonnet, V. Dupuis: Ultramicroscopy 65 (1996) 229
DOI
ScienceOn
|
16 |
J. M. Plitzko: J. Mayer, Ultramicroscopy 78 (1999) 207
DOI
ScienceOn
|
17 |
K. Okada, K. Kimoto, S. Komatsu, S. Matsumoto: J Appl Physb (2003) 3120
|
18 |
J. L. Lavergne, J. M. Martin, M. Belin: Microsc Microanal M 3 (1992) 517
DOI
ScienceOn
|
19 |
L. Ponsonnet, B. Vacher, J. M. Martin: Thin Solid Films 324 (1998) 170
DOI
ScienceOn
|
20 |
C. Jeanguillaume, P. Trebbia, C. Colliex: Ultramicroscopy 3 (1978) 237
DOI
ScienceOn
|
21 |
T. C. Rojas, M. J. Sayagues, A. Caballero, Y. Koltypin, A. Gedanken: L. Ponsonnet, B. Vacher, J.M. Martin, A. Fernandez, J Mater Chem 10 (2000) 715
DOI
ScienceOn
|