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유전박막을 이용한 금속/반도체 계면 특성 및 결함 연구
Kim, Ho-Gyeong;
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The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
, v.31, no.5, pp.6-16,
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최신 수차보정 주사투과전자현미경/전자에너지손실분광법을 활용한 전자재료 분석의 최신 동향
O, Jun-Hyeop;Jang, Jae-Hyeok;
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The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
, v.31, no.5, pp.17-24,
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4H-SiC 기반으로 제작된 쇼트키 다이오드의 계면 준위 분석
Gang, Hong-Jeon;Kim, Hyeong-Jun;
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The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers
, v.31, no.5, pp.25-31,
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