전기전자학회논문지 (Journal of IKEEE)

  • 제23권1호
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  • Pages.318-321
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  • 2019
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  • 1226-7244(pISSN)
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  • 2288-243X(eISSN)
한국전기전자학회 (Institute of Korean Electrical and Electronics Engineers)
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복소수이미지 방법을 이용한 겉보기 대지저항률 계산

Apparent Soil Resistivity Calculation Using Complex Image Method

  • 투고 : 2019.03.07
  • 심사 : 2019.03.20
  • 발행 : 2019.03.31
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초록

겉보기대지저항률은 층의 깊이와 대지저항률과 같은 다층 대지파라미터들을 추정하는 데 사용된다. 겉보기대지저항률은 측정 될 수 있으며, 또한 겉보기대지저항률은 이들 파라미터들의 함수이기 때문에 주어진 대지 파라미터들로 계산 될 수 있다. 따라서 모든 최적화 알고리즘을 사용하여 계산된 겉보기대지저항률을 측정된 대지저항률에 가깝게 만드는 이들 파라미터들을 찾을 수 있다. 겉보기대지저항률을 계산하기위한 방정식은 0 차 Bessel함수를 포함하는 무한 적분으로 구성되어 있기 때문에 복잡하고 시간 소모적이다. 본 논문에서는 수평 다층 구조의 겉보기대지저항률을 계산하기 위한 빠른 알고리즘이 복소수이미지 방법을 사용하여 제시되었다.

The apparent soil resistivity is used for estimating multilayer soil parameters, such as, layer's depth and soil resistivity. The apparent soil resistivity can be measured, and also can be calculated if soil parameters are given, becacuse the apparent soil resistivity is a function of these parameters. Therefore, any optimization algorithms can be used to find these parameters which make the calculated apparent soil resistivity close to the measured one. The equation for calculating the apparent soil resistivity is complicated and time consumed, because it is composed of an infinite integral which includes a zero order Bessel's function of the first kind. In this paper, a fast algorithm for calculating the apparent soil resistivity of horizontal multilayer earth structure has been presented using complex image method.

키워드

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Fig. 1. The configration of measuring apparent earth resistivity using Wenner method. 그림 1. Wenner법을 이용한 겉보기대지저항률 측정 구성

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Figure 2. the apparent resistivities(ρc) using eqn. (2) and (6) (a) With the parameters shown in Table 1 (b) With the parameters shown in Table 2. 그림 2. 식(2)와 식(6)을 사용하여 계산한 겉보기대지저항률(ρc) (a) Table 1의 대지파라미터를 이용한 ρc (b) Table 2의 대지파라미터를 이용한 ρc

Table 1. Parameters of a two-layer earth structure. 표 1. 2층 대지구조의 파라미터

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Table 2. Parameters of a three-layer earth structure. 표 2. 3층 대지구조의 파라미터

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