Abstract
This paper describes that how to enhance the robustness of semiconductor TRM(Transmitter and Receiver Module) through the bias sequencing and tuning the switching time. Previous circuit designs focused on improving the MDS(Minimum Detection Signal) performance. Because TRM has critical problem which transmission output signal leak into receiver by it's compact design. Under this condition, TRM was frequently broken down within the MTBF(Mean Time Between Failure). This study proposes the bias sequencing and tuning the switching time to improve above problem. At first, we collected major failure symptom and infer it's cause. Second, we demonstrated it's effect by derive the improvement method and apply it to our system. And finally we can convinced that the proposed method clear the frequent failure problem with its lack of isolation.
본 논문에서는 순차바이어스와 스위칭 타임 튜닝기법을 통한 반도체 송수신모듈(TRM : Transmitter and Receiver Module)의 강건성 향상 방법에 대해 기술한다. 기존의 회로설계는 TRM의 소형화로 인한 송신출력신호가 수신기로 유기되어 최소수신감도(MDS : Minimum Detection Signal) 개선에 초점을 맞추어졌으나, 평균고장시간(MTBF : Mean Time Between Failure)을 만족하지 못하고 빈번히 고장이 발생하는 문제가 있었다. 본 연구는 이러한 현상을 개선하는 방법으로 순차바이어스 및 스위칭 타임 튜닝기법을 제안한다. 첫 번째로 주요 고장증상 수집 및 원인을 추론하였으며, 두 번째로 개선방법을 도출하고 시스템에 적용하여 효과를 검증하였다. 제안한 방법을 적용하여 격리도 부족에 따른 빈번한 고장증상이 해소되었다.