References
- L. V. Asryan, ECS Trans. 25, 9 (2009).
- V. A. Odnoblyudov and C. W. Tu, Appl. Phys. Lett. 89, 11922 (2006).
- M. Sugawara, H. Ebe, N. Hatori, M. Ishida, Y. Arakawa, T. Akiyama, K. Otsubo, and Y. Nakata, Phys. Rev. B 69, 235332 (2004). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.69.235332
- N. Lebedeva, A. Varpula, S. Novikov, and P. Kuivalainen, Phys. Rev. B 81, 235307 (2010). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.81.235307
- D. Zhou, P. E. Vullum, G. Sharma, S. F. Thomassen, R. Holmestad, T. W. Reenaas, and B. O. Fimland, Appl. Phys. Lett. 96, 083108 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3309411
- J. Kim, S. Ha, C. Yang, J. Lee, S. Park, W. J. Choi, and E. Yoon, J. Korean Vacuum Soc. 19, 217 (2010). https://doi.org/10.5757/JKVS.2010.19.3.217
- H. J. Lee, M.-Y. Ryu, and J. S. Kim, J. Korean Vacuum Soc. 18, 474 (2009). https://doi.org/10.5757/JKVS.2009.18.6.474
- D. Sreenivasan, J. E. M. Haverkort, T. J. Eijkemans, and R. Notzel, Appl. Phys. Lett. 90, 112109 (2007). https://doi.org/10.1063/1.2713803
- K.-H. Kim, J. H. Sim, and I. -H. Bae, J. Korean Vacuum Soc. 18, 208 (2009). https://doi.org/10.5757/JKVS.2009.18.3.208
- S. P. Ahrenkiel, A. G. Norman, A. l-. M. M. Jassim, A. Mascarenhas, J. Mirecki Millunchick, R. D. Twesten, S. R. Lee, D. M. Follstaedt, and E. D. Jones, J Appl. Phys. 84, 6088 (1998). https://doi.org/10.1063/1.368921
- G. B. String fellow and G. S. Chen, J. Vac. Sci. Technol. B 9, 2182 (1991). https://doi.org/10.1116/1.585761
- S. W. Jun, T.-Y. Seong, J. H. Lee, and B. Lee, Appl. Phys. Lett. 68, 3447 (1996).
- T.-Y. Seong, A. G. Norman, I. T. Ferguson, J. L. Hutchison, G. R. Booker, R. A. Stradling, and B. A. Joyce, Inst. Phys. Conf. Ser. 117, 485 (1991).
- T.-Y. Seong, A. G. Norman, I. T. Ferguson, and G. R. Booker, J. Appl. Phys. 73, 8227 (1993). https://doi.org/10.1063/1.353440
- S. Francoeur, M. C. Hanna, A. G. Norman, and A. Mascarenhas, Appl. Phys. Lett. 80, 243 (2002). https://doi.org/10.1063/1.1432754
- K. Y. Cheng, K. C. Hsieh, and J. N. Baillargeon, Appl. Phys. Lett. 60, 2892 (1992). https://doi.org/10.1063/1.106810
- C. M. Fetzer, R. T. Lee, S. W. Jun, G. B. Stringfellow, S. M. Lee, and T. Y Seong, Appl. Phys. Lett. 78, 1376 (2001). https://doi.org/10.1063/1.1350424
- J. D. Song, Y. W. Ok, J. M. Kim, Y. T. Lee, and T. Y. Seong, J. Appl. Phys. 90, 5086 (2001). https://doi.org/10.1063/1.1412267
- P. Ernst, C. Geng, G. Hahn, F. Scholz, H. Schweizer, F. Phillipp, and A. Mascarenhas, J. Appl. Phys. 75, 2633 (1996).
- H. M. Cheong, A. Mascarenhas, S. P. Ahrenkiel, K. M. Jones, J. F. Geisz, and J. M. Olson, J. Appl. Phys. 83, 5418 (1998). https://doi.org/10.1063/1.367371
- S. H. Wei and A. Zunger, Phys. Rev. B 57, 8983 (1998). https://doi.org/10.1103/PhysRevB.57.8983
- J. D. Song, Y. W. Ok, J. M. Kim, Y. T. Lee, and T. Y. Seong, Appl. Surf. Science 183, 33 (2001). https://doi.org/10.1016/S0169-4332(01)00543-8
- P. Ernst, C. Geng, F. Scholz, H. Schweizer, Y. Zhang, and A. Mascarenhas, Appl. Phys. Lett. 67, 2347 (1995). https://doi.org/10.1063/1.114340
- S.-H. Wei, D. B. Laks, and A. Zunger, Appl. Phys. Lett. 62, 1937 (1993). https://doi.org/10.1063/1.109496
- K. W. Park, C. Y. Park, S. Ravindran, S. J. Kang, H. Y. Hwang, Y. D. Jho, Y. R. Jo, B. J. Kim, and Y. T. Lee, J. Appl. Phys. 116, 043516 (2014). https://doi.org/10.1063/1.4891462