References
- Z. Wu, Z. Chen, X. Du, J. M. Logan, J. Sippel, M. Nikolou, K. Kamaras, J. R. Reynolds, D. B. Tanner, and A. F. Hebard, Science, 305, 1273 (2004). [DOI: http://dx.doi.org/10.1126/science.1101243]
- L. Kim, J. S. Yu, G. H. Jung, J. Jo, J. S. Kim, J. W. Kim, S. W. Kwak, J. L. Lee, and D. Kim, Sol. Energ. Matater. Sol. Cells, 109, 142 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.solmat.2012.10.013]
- N. Yamamoto, H. Makino, K. Morisawa, and T. Yamamoto, J. Electrochem. Soc., 41, 29 (2012).
- Y. M. Chien, I. Shih, and R. Izquierdo, J. Electrochem. Soc., 35, 69 (2011).
- Y. H. Shin, C. K. Cho, and H. K. Kim, Thin Solid Films, 548, 641 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2013.10.007]
- C. H. Liu and X. Yu, Nanoscale Research Letters, 6, 75 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-6-75]
- L. Hu, H. S. Kim, J. Y. Lee, P. Peumans, and Y. Cui, ACS Nano, 4, 2599 (2010). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/nn1010045]
- N. F. Anglada, J. P. Puigdemont, J. Figueras, M. Z. Iqbal, and S. Roth, Nanoscale Res. Lett., 7, 571 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-7-571]
- H. Z. Geng, K. K. Ki, P. S. Kang, S. L. Young, Y. B. Chang, and H. L. Young, J. Am. Chem. Soc., 129, 7758 (2007). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/ja0722224]
- C. Park, S. W. Kim, Y. S. Lee, S. H. Lee, K. H. Song, and L. S. Park, J. Nanosci. Nanotechnol., 12, 5351 (2012). [DOI: http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2012.6343]
- K. Bolotin, K. Sikes, Z. Jiang, M. Klima, G. Fudenberg, J. Hone, P. Kim, and H. Stormer, Solid State Communications, 146, 351 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.ssc.2008.02.024]
- S. Latil and L. Henrard, Physical Review Letters, 97, 36803 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.97.036803]
- B. D. Malhotra, A. Chaubey, and S. P. Singh, Anal. Chim. Acta, 578, 59 (2006). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.aca.2006.04.055]
- J. Yang, J. Choi, D. Bang, E. Kim, E. K. Lim, H. Park, J. S. Suh, K. Lee, K. H. Yoo, E. K. Kim, Y. M. Huh, and S. Haam, Angew. Chem. Int. Ed., 50, 441 (2011). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/anie.201005075]
- R. Jackson, B. Domercq, R. Jain, B. Kippelen, and S. Graham, Advanced Functional Materials, 18, 2548 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/adfm.200800324]
- J. Y. Lee, S. T. Connor, Y. Cui, and P. Peumans, Nano Letters, 8, 689 (2008). [DOI: http://dx.doi.org/10.1021/nl073296g]
- E. M. Doherty, S. De, P. E. Lyons, A. Shmeliov, P. N. Nirmalraj, V. Scardaci, J. Joimel, W. J. Blau, J. J. Boland, and J. N. Coleman, Carbon, 47, 2466 (2009). [DOI: http://dx.doi.org/10.1016/j.carbon.2009.04.040]
- Y. Meng, G. Xin, J. W. Nam, S. M. Cho, and H. Y. Chae, J. Nanosci. Nanotechnol., 13, 6125 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1166/jnn.2013.7651]
- J. Xu, L. Zhang, and G. Chen, Electrophoresis, 34, 2017 (2013). [DOI: http://dx.doi.org/10.1002/elps.201200443]