참고문헌
- C. Park, S. W. Kim, S. I. Kim, C. J. Kim, I. H. Song, Y. S. Park, U. I. Jung, D. H. Kim, and J. S. Lee, Adv. Mater., 22, 5512 (2010) https://doi.org/10.1002/adma.201002397
- W. H. Jeong, G. H. Kim, D. L. Kim, H. S. Shin, H. J. Kim, M. K. Ryu, K. B. Park, J. B. Seon, and S. Y. Lee, Thin Solid Films, 519, 5740 (2011) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.12.210
- S. Y. Lee, S. P. Chang, and J. S. Lee, Thin Solid Films, 518, 3030 (2010) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.09.165
- K. W. Lee, K. M. Kim, K. Y. Heo, S. K. Park, S. K. Lee, and H. J. Kim, Curr. Appl. Phys., 11, 280 (2011) https://doi.org/10.1016/j.cap.2010.07.020
- J. S. Park, W. J. Maeng, H. S. Kim, and J. S. Park, Thin Solid Films, 520, 1679 (2012) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.07.018
- E. G. Chong, Y. W. Jeon, Y. S. Chun, D. H. Kim, and S. Y. Lee, Thin Solid Films, 519, 4347 (2011) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.02.033
- H. R. Kim, J. Y. Park, S. H. Lee, G. H. Lee, P. G. Song, Y. C. Kang, and D. H. Kim, Electrochem. Solid-State Lett., 14, H411 (2011) https://doi.org/10.1149/1.3613935
- H. S. Jeon, S.K. Na, M. R. Moon, D. G. Jung, H. S. Kim, and H. J. Lee, J. Electrochem. Soc., 158, H949 (2011) https://doi.org/10.1149/1.3615534
- J. H. Jeong, H. W. Yang, J. S. Park, J. K. Jeong, Y. G. Mo, H. D. Kim, J. W. Song, and C. S. Hwang, Electrochem. Solid-State Lett., 11, H157 (2008) https://doi.org/10.1149/1.2903209
- S. Y. Kwon, J. W. Park, and P. D. Rack, Electrochem. Solid-State Lett., 12, H278 (2009) https://doi.org/10.1149/1.3129505
- Y. Kikuchi, K. Nomura, H. Yanagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Thin Solid Films, 518, 3017 (2010) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.10.132
- G. H. Kim, H. S. Shin, B. D. Ahn, K. H. Kim, W. J. Park, and H. J. Kim, J. Electrochem. Soc., 156, H7 (2009) https://doi.org/10.1149/1.2976027
- G. H. Kim, B. D. Ahn, H. S. Shin, W. H. Jeong, H. J. Kim, and H. J. Kim, Appl. Phys. Lett., 94, 233501 (2009) https://doi.org/10.1063/1.3151827
- G. H. Kim, W. H. Jeong, and H. J. Kim, Phys. Status Solidi A, 207, 1677 (2010) https://doi.org/10.1002/pssa.200983742
- S. W. Tsao, T. C. Chang, S. Y. Huang, M. C. Chen, S. C. Chen, C. T. Tsai, Y. J. Kuo, Y. C. Chen, and W. C. Wu, Solid-State Electron., 54, 1497 (2010) https://doi.org/10.1016/j.sse.2010.08.001
- S. Y. Hwang, J. H. Lee, C. H. Woo, J. Y. Lee, and H. K. Cho, Thin Solid Films, 519, 5146 (2011) https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.01.074
피인용 문헌
- Amorphous ZnAlSnO thin-film transistors by a combustion solution process for future displays vol.106, pp.5, 2015, https://doi.org/10.1063/1.4906999
- Solution-based SnGaO thin-film transistors for Zn- and In-free oxide electronic devices vol.113, pp.12, 2018, https://doi.org/10.1063/1.5046119