Abstract
In this paper, to compensate the degraded performance in high-resolution infrared sensor due to assembling error, the influence of each component was evaluated through the sensitivity analysis of lens assembly, axis mirror, and detector and also suggested detector tilt mechanism for compensation. 3 detector tilt mechanisms were investigated. The first one is 'Shim plate' method which is applying shim on installing plane. The second one is 'Tilting screw' method that is using tilt screw for adjusting detection plane. The last one is 'Micrometer head' method that is installing micrometer on detection plane and acquiring quantitative data. Based on the investigation result, 'Tilting screw' method was applied due to ease of user control, small volume, and real-time controllability, thereby we could acquire high-resolution infrared images. The research result shows that the tilting mechanism is necessary technology for the implementation of high-resolution infrared imaging system.
본 연구논문에서는 고해상도 적외선 센서장비에서 조립오차에 의해 저하된 성능을 보완하기 위해 적외선 센서장비의 구성품인 렌즈조립체, 축거울 및 검출기의 민감도 분석을 통해 성능에 미치는 영향성을 확인하였고, 이를 보정하기 위해 검출기의 틸트 메커니즘 적용 방안에 대한 연구를 하였다. 검출기 틸트 메커니즘에는 장착면에 shim을 적용하여 tilt하는 방식인 Shim plate 방식과 tilt screw를 조정하여 검출면의 tilt를 조정하는 Tilting 나사 방식, 마지막으로 마이크로미터를 장착하여 정량적인 데이터를 획득할 수 있는 마이크로미터 헤드 방식으로 3가지 방식이 검토 되었다. 검토 결과 사용자의 조절이 용이하고 부피가 크지 않으며 실시간으로 영상을 보면서 조절이 가능한 Tilting 나사 방식을 적용하였으며, 실험결과 고해상도 영상을 획득할 수 있었으며 고해상도 영상획득을 구현하기 위한 장비에 적용이 필요한 기술임을 확인하였다.