Abstract
Binary connected-component labeling is widely used in the fields of the image processing and the computer vision. Many kinds of labeling techniques have been developed, and two-scan is known as the fastest method among them. Traditionally pixel-based scan masks have been used for the first stage of the two-scan. Recently, block-based labeling techniques were introduced by C. Grana et. al. and L. He et. al. They are faster than pixel-based labeling methods. In this paper, we propose a new binary connected-component labeling technique with block-based labels and a pixel-based scan mask. The experimental results with various images show that the proposed method is faster than the He's which is known as the fastest method currently. The amount of performance enhancement is averagely from 3.9% to 22.4% according to the sort of the images.
이진 연결요소 라벨링은 영상처리와 컴퓨터비전 등의 영역에 널리 사용되는 기법 중의 하나이다. 지금까지 여러 가지 방법의 라벨링기법이 연구되어 왔는데 그 중에서 이중스캔 방법이 가장 효과가 있는 것으로 나타나고 있다. 이중스캔 방법에서는 전통적으로 화소단위로 스캐닝을 하면서 순차적으로 라벨링하는 방법을 사용했는데 최근에는 C. Grana et. al. 및 L. He et. al. 등이 제안한 복수의 인접화소를 묶은 블록을 기반으로 라벨링하는 방법이 가장 효율적인 것으로 인정받고 있다. 본 논문에서는 화소기반의 스캔마스크를 사용하면서 라벨링은 Grana의 블록을 기반으로 하는 새로운 라벨링 방법을 제안하고 있다. 실제 사용하는 영상들에 대해 실험한 결과 영상의 종류에 따라 제안된 방법이 현재 가장 효율이 좋은 He의 방법에 비해 평균 3.9%에서 22.4%까지 성능의 향상이 있는 것으로 나타났다.