References
- K. Nomura, H. Ohta, A. Takagi, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Nature, 432, 488 (2004). https://doi.org/10.1038/nature03090
- K. Nomura, H. Ohta, K. Ueda, T. Kamiya, M. Hirano, and H. Hosono, Science, 300, 1269 (2003). https://doi.org/10.1126/science.1083212
- R. A. Street, Adv. Mater., 21, 2007 (2009). https://doi.org/10.1002/adma.200803211
- K. Nomura, T. Aoki, K. Nakamura, T. Kamiya, T. Nakanishi, T. Hasegawa, M. Kimura, T. Kawase, M. Hirano, and H. Hosono, Appl. Phys. Lett., 96, 263509 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3458799
- M. J. Lee, S. J. Kang, J. Y. Baik, K. K. Jeong, H. D. Kim, H. J. Shin, J. Chung, J. Lee, and J. Lee, J. Appl. Phys., 108, 024507 (2010). https://doi.org/10.1063/1.3457782
- W. Lim, J. H. Jang, S. H. Kim, D. P. Norton, V. Craciun, S. J. Pearton, F. Ren, and H. Shen, Appl. Phys. Lett., 93, 082102 (2008). https://doi.org/10.1063/1.2975959
- S. Kim, Y. W. Jeon, Y. Kim, D. Kong, H. K. Jung, M. K. Bae, J. H. Lee, B. D. Ahn, S. Y. Park, J. H. Park, J. Park, H. I. Kwon, D. M. Kim, and D. H. Kim, IEEE Electron Devices Lett., 33, 62 (2012). https://doi.org/10.1109/LED.2011.2173153
- H. Q. Chiang, B. R. McFarlane, D. Hong, R. E. Presley, and J. F. Wager, Thin Solid Films, 354, 2826 (2008).
- B. Kim, E. Chong, D. H. Kim, Y. W. Jeon, D. H. Kim, and S. Y. Lee1, Appl. Phys. Lett., 99, 062108 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3615304
- S. Y. Lee, D. H. Kim, E. Chong, Y. W. Jeon, and D. H. Kim, Appl. Phys. Lett., 98, 122105 (2011). https://doi.org/10.1063/1.3570641
- S. Hwang, J. H. Lee, C. H. Woo, J. Y. Lee, and H. K. Cho, Thin Solid Films, 519, 5146 (2011). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.01.074
- A. H. Chen, H. T. Cao, H. Z. Zhang, L. Y. Liang, Z. M. Liu, Z. Yu, Q. Wan, Microelectron. Eng., 87, 2019 (2010). https://doi.org/10.1016/j.mee.2009.12.081
- S. Y. Lee, D. H. Kim, B. Kim, H. K. Jung, and D. H. Kim, Thin Solid Films, 520, 3796 (2012). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2011.10.058